Vol. 8 No. 1 (2010): Physical surface engineering

Статті

• Nanocrystalline diamond cvd-films: structure, properties and prospects of application

  И. И. Выровец, В. И. Грицына, С. Ф. Дудник, О. А. Опалев, Е. Н. Решетняк, В. Е. Стрельницкий

  4 - 19

  • pdf (Русский)
• Tribotechnical, physical-mechanical properties and thermal stability of nano- and micro-composite coatings based on Ti-Al-N

  А. Д. Погребняк, А. А. Дробышевская, М. В. Ильяшенко, Г. В. Кирик, Ф. Ф. Комаров, В. М. Береснев, Н. А. Махмудов, Ш. М. Рузимов, А. П. Шипиленко, Ю. Ж. Тулеушев

  20-27

  • pdf (Русский)
• Investigation of the phase composition, structure, and properties of multilayer vacuum-arc nanocrystalline Ti-Mo-N coatings

  А. А. Андреев, О. В. Соболь, В. Ф. Горбань, В. А. Столбовой, В. В. Мамон

  28 - 35

  • pdf (Русский)
• Nanodisperse films deposited by pulsed laser sputtering of combined Ni-Au targets

  А. Г. Багмут, И. А. Багмут, В. А. Жучков, Г. П. Николайчук, А. Н. Красников

  36 - 42

  • pdf (Русский)
• Hierarchical duplicate matrix structure C for Li + and Mg ++ - intercalation current formation

  С. А. Войтович, І. І. Григорчак, М. В. Матвіїв

  43 - 52

  • pdf (Українська)
• The temperature dependence of the density of surface states, determined using unsteady capacitive spectroscopy

  Г. Гулямов, Н. Ю. Шарибаев

  53-58

  • pdf (Русский)
• Study of mechanisms for obtaining nanostructures of zinc oxide from the vapor phase

  В. Б. Капустяник,, Б. І. Турко, Г. О. Лубочкова, Р. Я. Серкіз, Д. Л. Вознюк, Н. В. Лень, А. П. Васьків

  59 - 63

  • pdf (Українська)
• dhesive characteristics of coatings and methods for measuring them

  В. М. Лунёв, О. В. Немашкало

  64 - 71

  • pdf (Русский)
• The microstructure of grain boundaries in polycrystalline silicon and its influence on the transfer of charge carriers

  Б. М. Абдурахманов, Л. О. Олимов, Ф. Абдуразаков

  72-76

  • pdf (Русский)
• The influence of clustering processes in gases on the speed of sound and its absorption

  А. М. Павлов

  77-80

  • pdf (Русский)
• Formation of a regular porous p-InP structure

  Я. А. Сычикова, В. В. Кидалов, Г. А. Сукач

  81-87

  • pdf (Русский)
• Features of the application of X-ray photoelectron spectroscopy to determine the thickness of ultrathin films

  А. Н. Стервоедов, В. М. Береснев, Н. В. Сергеева

  88-92

  • pdf (Русский)