Двонаправлена модуляція ширини забороненої зони в тонких плівках на основі ZnO за допомогою катионно-та аніонно-індукованої граткової інженерії

  • Джавохір Ш. Худойкулов Кафедра фізики, Національний університет Узбекистану, Ташкент, Узбекистан https://orcid.org/0009-0005-4223-8863
  • Шавкат У. Юлдашев Кафедра фізики, Національний університет Узбекистану, Ташкент, Узбекистан; Центр розвитку нанотехнологій, Національний університет Узбекистану, Ташкент, Узбекистан https://orcid.org/0000-0002-2187-5960
  • Азамат О. Арсланов Кафедра фізики, Національний університет Узбекистану, Ташкент, Узбекистан https://orcid.org/0009-0000-4817-8770
  • Джамоліддін Х. Муродов Центр розвитку нанотехнологій, Національний університет Узбекистану, Ташкент, Узбекистан https://orcid.org/0009-0006-3088-4881
  • Андрій А. Небесний Кафедра фізики, Національний університет Узбекистану, Ташкент, Узбекистан
  • Нойба У. Ботірова Центр розвитку нанотехнологій, Національний університет Узбекистану, Ташкент, Узбекистан https://orcid.org/0009-0002-2294-9981
  • Ра’но Ш. Шаріпова Центр розвитку нанотехнологій, Національний університет Узбекистану, Ташкент, Узбекистан
Ключові слова: ZnMgO, ZnOS, ширина забороненої зони, деформація решітки, діаграма Таука, ультразвуковий піроліз

Анотація

Тонкі плівки Zn₁₋ₓMgₓO та ZnO₁₋ᵧSᵧ були синтезовані методом ультразвукового розпилювального піролізу та досліджені з метою досягнення двонаправленої інженерії забороненої зони в матеріалах на основі ZnO. Рентгенівська дифракція підтвердила однофазну структуру вюрциту з сильною орієнтацією осі c у всіх зразках. Включення Mg викликало зміщення піку (002) до більших кутів, що вказує на стиснення решітки, тоді як заміщення S викликало зміщення до менших кутів, що відповідає розширенню решітки. UV–Vis  аналіз виявив систематичний зсув ширини забороненої зони в синю область спектра при легуванні магнієм (від ~3,26 еВ до ~3,33 еВ) та зсув у червону область спектра при включенні сірки (до ~3,01 еВ).. Ці зміни пояснюються деформацією решітки та її впливом на електронну структуру. Крім того, збільшення концентрації легуючої домішки призвело до зменшення розміру кристалітів та збільшення мікродеформації та переупорядкування. Результати встановлюють чітку кореляцію між деформацією решітки та модуляцією оптичної забороненої зони, демонструючи ефективний підхід до налаштування тонких плівок на основі ZnO для оптоелектронних застосувань.

Завантаження

##plugins.generic.usageStats.noStats##

Посилання

Ü. Özgür, Y. I. Alivov, C. Liu, et al., “A comprehensive review of ZnO materials and devices,” Journal of Applied Physics, 98, (2005) 041301. https://doi.org/10.1063/1.1992666

A. Ohtomo, and M. Kawasaki, “ZnO-based heterostructures: MgZnO/ZnO quantum wells,” Applied Physics Letters, 72, 2466 2468 (1998). https://doi.org/10.1063/1.121384

S. Major, A. Banerjee, and K. L. Chopra, “Highly transparent and conducting ZnO films prepared by spray pyrolysis,” Thin Solid Films, 108, 333–340 (1983). https://doi.org/10.1016/0040-6090(83)90438-5

S. Pearton, D. Norton, K. Ip, et al., “Recent progress in processing and properties of ZnO,” Progress in Materials Science, 50, 293–340 (2005). https://doi.org/10.1016/j.pmatsci.2004.04.001

R. Vinodkumar, and K. Vijayalakshmi, “Effect of Mg incorporation on structural and optical properties of ZnMgO thin films,” Materials Science in Semiconductor Processing, 16, 1–6 (2013). https://doi.org/10.1016/j.mssp.2012.08.004

J. X. Murodov, Sh. U. Yuldashev, A. O. Arslanov, N. U. Botirova, J. Sh. Xudoyqulov, R. Sh. Sharipova, R. A. Nusretov, et al., “Resistive Switching Behavior of SnO₂/ZnO Heterojunction Thin Films for Non-Volatile Memory Applications,” East Eur. J. Phys. (3), 348–352 (2025). https://doi.org/10.26565/2312-4334-2025-3-34

R. Zhang, Sh. U. Yuldashev, J. C. Lee, V. Sh. Yalishev, T. W. Kang, and D. J. Fu, “Electrical Properties of ZnO Nanostructures Grown on Si Substrates,” Microelectron. Eng. 112, 31–35 (2013). https://doi.org/10.1016/j.mee.2013.05.018

N. U.Botirova, A. O. Arslanov, G. B. Eshobqulov, J. X. Murodov, R. Sh. Sharipova, J. Sh. Xudoyqulov, and Sh. U. Yuldashev, “Effect of SiO₂ and Post-Annealed Ga₂O₃ Buffer Layers on Ga₂O₃ Thin Film Growth and Properties,” Cryst. Growth Des. 25(18), 7828–7833 (2025). https://doi.org/10.1021/acs.cgd.5c01075

M. Caglar, S. Ilican, and Y. Caglar, “Influence of sulfur doping on structural and optical properties of ZnO thin films,” Journal of Alloys and Compounds, 509, 5130–5137 (2011). https://doi.org/10.1016/j.jallcom.2011.01.061

A. Arslanov, Sh. Yuldashev, N. Botirova, R. Nusretov, J. Murodov, and J. Xudoyqulov, “Impact of Precursor Molar Concentration on the Structural and Optical Properties of ZnO Thin Films Synthesized by Ultrasonic Spray Pyrolysis,” Physical Science International Journal, 29(1), 29-35 (2025). https://doi.org/10.9734/psij/2025/v29i1871

Sh Yuldashev, K. Mukimov, G. Eshonkulov, A. Arslanov, and J. Xudoykulov, “Diluted Magnetic Semiconductors for Spintronics Applications,” in: ICLODAM-24, (Tashkent, Uzbekistan, 2024).

V. Morari, V.V. Ursaki, E.V. Rusu, V.V. Zalamai, P. Colpo, and I.M. Tiginyanu, “Spin-Coating and Aerosol Spray Pyrolysis Processed Zn1−xMgxO Films for UV Detector Applications,” Nanomaterials, 12, 3209 (2022). https://doi.org/10.3390/nano12183209

H. Morkoç, AND Ü. Özgür, Zinc Oxide: Fundamentals, Materials and Device Technology, (Wiley-VCH, Weinheim, 2009).

A. Janotti, AND C.G. Van de Walle, “Fundamentals of zinc oxide as a semiconductor,” Reports on Progress in Physics, 72, 126501 (2009). https://doi.org/10.1088/0034-4885/72/12/126501

Transparent Conductive Zinc Oxide, edited by K. Ellmer, A. Klein, and B. Rech, “Springer Series in Materials Science, 2008”. https://doi.org/10.1007/978-3-540-73612-7

Опубліковано
2026-09-07
Цитовано
Як цитувати
Худойкулов, Д. Ш., Юлдашев, Ш. У., Арсланов, А. О., Муродов, Д. Х., Небесний, А. А., Ботірова, Н. У., & Шаріпова, Р. Ш. (2026). Двонаправлена модуляція ширини забороненої зони в тонких плівках на основі ZnO за допомогою катионно-та аніонно-індукованої граткової інженерії. Східно-європейський фізичний журнал, (3), 292-297. https://doi.org/10.26565/2312-4334-2026-3-24

Найбільш популярні статті цього автора (авторів)