Резистивна перемикальна поведінка тонкоплівкового гетеропереходу SnO₂/ZnO для застосувань в енергонезалежній пам'яті

  • Джамоліддін X. Муродов Ташкентський державний технічний університет імені Іслама Карімова, Ташкент, Узбекистан; Центр розвитку нанотехнологій, Національний університет Узбекистану, Ташкент, Узбекистан https://orcid.org/0009-0006-3088-4881
  • Шавкат У. Юлдашев Центр розвитку нанотехнологій, Національний університет Узбекистану, Ташкент, Узбекистан https://orcid.org/0000-0002-2187-5960
  • Азамат О. Арсланов Національний університет Узбекистану імені Мірзо Улугбека, Ташкент, Узбекистан https://orcid.org/0009-0000-4817-8770
  • Нойба У. Ботірова Центр розвитку нанотехнологій, Національний університет Узбекистану, Ташкент, Узбекистан
  • Джавохір Ш. Худойкулов Національний університет Узбекистану імені Мірзо Улугбека, Ташкент, Узбекистан; Центральноазіатський університет, Ташкент, Узбекистан https://orcid.org/0009-0005-4223-8863
  • Рано Ш. Шаріпова Центр розвитку нанотехнологій, Національний університет Узбекистану, Ташкент, Узбекистан
  • Рафаель А. Нусретов Ташкентський державний технічний університет імені Іслама Карімова, Ташкент, Узбекистан
  • Андрій А. Небесний Національний університет Узбекистану імені Мірзо Улугбека, Ташкент, Узбекистан
  • Мухаммад П. Пірімматов Інститут фізики та технологій, Ташкент, Узбекистан https://orcid.org/0009-0000-4829-7817
Ключові слова: SnO₂, ZnO, резистивне перемикання, мемристор, тонкі плівки, гетероперехід, енергонезалежна пам'ять, кисневі вакансії

Анотація

У цьому дослідженні представлено виготовлення та властивості резистивного перемикання (РС) двошарових тонких плівок SnO2/ZnO, нанесених за допомогою ультразвукового розпилювального піролізу на кремнієві підкладки p-типу. Гетероструктури були відпалені при 450°C для покращення кристалічності та міжфазного контакту. Електрична характеристика за допомогою вольт-амперних вимірювань виявила чітку біполярну РС-поведінку без необхідності початкового процесу формування. Пристрої демонстрували стабільний стан високого опору (HRS) та стан низького опору (LRS) протягом кількох циклів, зі співвідношенням увімкнення/вимкнення, що перевищує 10². Механізм перемикання пояснюється утворенням та розривом провідних ниток, ймовірно, викликаних вакансіями кисню на межі розділу SnO2/ZnO. Оцінка ширини забороненої зони за допомогою графіків Таука показала значення приблизно 3,17 еВ та 3,41 еВ для ZnO та SnO2 відповідно. Ці результати підтверджують потенціал гетеропереходів SnO₂/ZnO як ефективних матеріалів для застосування в енергонезалежній пам'яті наступного покоління.

Завантаження

##plugins.generic.usageStats.noStats##

Посилання

D. Ielmini, “Resistive switching memories based on metal oxides: Mechanisms, reliability and scaling,” Semiconductor Science and Technology, 31(6), 063002 (2016). https://doi.org/10.1088/0268-1242/31/6/063002

B. Cao, H. Liu, T. Li, J. Gong, S. Zhang, and M.T. Dove, “Synthesis of composite films for ZnO-based memristors with superior stability,” Materials Research Express, 11, 056302 (2024). https://doi.org/10.1088/2053-1591/ad4777

P.D. Walke, et al., “Memristive Devices from CuO Nanoparticles,” Nanomaterials, 10(9), 1677 (2020). https://doi.org/10.3390/nano10091677

P.A. Hind, P. Kumar, U.K. Goutam, and B.V. Rajendra, “Impact of deposition temperature on persistent photoconductivity of SnO₂ thin films deposited using spray pyrolysis technique suitable in optoelectronic synaptic devices,” Optical Materials, 146, 115579 (2024). https://doi.org/10.1016/j.optmat.2024.115579

N.U. Rehman, R. Khan, N. Rahman, I. Ahmad, A. Ullah, M. Sohail, S. Iqbal, et al., “Dual-doped ZnO-based magnetic semiconductor resistive switching response for memristor-based technologies,” Journal of Materials Science: Materials in Electronics, 35, 1557 (2024). https://doi.org/10.1007/s10854-024-13318-5

R. Pant, N. Patel, K.K. Nanda, and S.B. Krupanidhi, “Negative differential resistance and resistive switching in SnO₂/ZnO interface,” Journal of Applied Physics, 122(12), (2017). https://doi.org/10.1063/1.5004969

S. Saha, et al. “Experimental demonstration of SnO₂ nanofiber-based memristors and their data-driven modeling for nanoelectronic applications,” Chip, 2, 100075 (2023). https://doi.org/10.1016/j.chip.2023.100075

J.X. Murodov, Sh.U. Yuldashev, M.S. Mirkamilova, and U.E. Jurayev, “Tunable Negative Differential Resistance in SnO₂:Co Memristors on p-Si,” East European Journal of Physics, (2), 211-214 (2025). https://doi.org/10.26565/2312-4334-2025-2-22

A. Arslanov, Sh. Yuldashev, N. Botirova, R. Nusretov, J. Murodov, and J. Xudoyqulov, “Impact of precursor molar concentration on the structural and optical properties of ZnO thin films synthesized by ultrasonic spray pyrolysis,” Physical Science International Journal, 29(1), 29–35 (2025). https://doi.org/10.9734/psij/2025/v29i1871

Опубліковано
2025-09-08
Цитовано
Як цитувати
МуродовД. X., Юлдашев, Ш. У., Арсланов, А. О., Ботірова, Н. У., Худойкулов, Д. Ш., Шаріпова, Р. Ш., Нусретов, Р. А., Небесний, А. А., & Пірімматов, М. П. (2025). Резистивна перемикальна поведінка тонкоплівкового гетеропереходу SnO₂/ZnO для застосувань в енергонезалежній пам’яті. Східно-європейський фізичний журнал, (3), 348-352. https://doi.org/10.26565/2312-4334-2025-3-34

Найбільш популярні статті цього автора (авторів)