Rakhmanov, Dilmurod, Institute of Semiconductor Physics and Microelectronics at the National University of Uzbekistan, Tashkent, Uzbekistan, Узбекистан
-
Східно-європейський фізичний журнал № 2 (2023): Східно-європейський фізичний журнал - Статті
Рентгено-структурні дослідження n-Si, опроміненого протонами
Анотація pdf (English)