Чисельне моделювання динаміки ВЧ ємнісного розряду у вуглекислому газі

  • Валерій Лісовський Харківський національний університет імені В.Н. Каразіна, Харків, Україна https://orcid.org/0000-0002-6339-4516
  • Станіслав Дудін Харківський національний університет імені В.Н. Каразіна, Харків, Україна https://orcid.org/0000-0001-9161-4654
  • Aмалія Шахназарян Харківський національний університет імені В.Н. Каразіна, Харків, Україна
  • Павло Платонов V.N. Karazin Kharkiv National University, Kharkiv, Ukraine
  • Володимир Єгоренков Харківський національний університет імені В.Н. Каразіна, Харків, Україна https://orcid.org/0000-0002-7252-3711
Ключові слова: високочастотний ємнісний розряд, гідродинамічне моделювання, вуглекислий газ, швидкість іонізації, подвійні шари, негативні іони

Анотація

У цій роботі одновимірний гідродинамічний код SIGLO-rf було використано для дослідження внутрішніх параметрів ВЧ ємнісного розряду у вуглекислому газі. Проведено моделювання середніх за часом та просторово-часових профілів параметрів розряду. Для цього чисельно розв’язано рівняння балансу концентрації для кожного з видів заряджених частинок та рівняння балансу енергії електронів, які були доповнені також рівнянням Пуассона для електричного потенціалу. За допомогою цього коду SIGLO-rf в діапазоні відстаней між електродами d = 0.04 – 8 cm, частот ВЧ електричного поля f = 3.89 – 67.8 MHz та значень тиску вуглекислого газу p = 0.1 – 9.9 Torr розраховано середні за ВЧ період осьові профілі густини електронів, позитивних та негативних іонів, а також потенціалу та напруженості електричного поля. Показано, що розрядна плазма в CO2 містить електрони, позитивні іони, а також негативні іони. Вони утворилися при дисоціативному прилипанні електронів до молекул CO2 й є негативними іонами атомарного кисню. Зазвичай плазма ВЧ ємнісного розряду є фактично іон-іонною, тому що концентрація вільних електронів у декілька десятків разів менша за концентрацію негативних іонів. Негативні іони накопичуються у плазмі завдяки утриманню в середній за часом потенціальній ямі, що призводить до зменшення потенціалу плазми. Дослідження просторово-часової динаміки параметрів плазми (густини електронів, потенціалу та напруженості електричного поля, а також швидкостей іонізації та прилипання) у ВЧ ємнісному розряді в CO2 показали, що протягом однієї половини ВЧ періоду зазвичай спостерігаються від 1 до 3 сплесків іонізації. Вони відповідають стохастичному нагріву у приелектродному шарі, що є у катодній фазі й межує з тимчасовим негативним електродом, та формуванню пасивного та активного подвійних шарів біля меж приелектродних шарів. Пасивний подвійний шар знаходиться біля межі приелектродного шару у катодній фазі й підтримує розрядну плазму. Активний шар формується біля межі приелектродного шару в анодній фазі й забезпечує баланс позитивного та негативного зарядів, що надходять в електрод протягом усього ВЧ періоду. З’ясовано, що при одночасному виконанні умов pd = 2 Torr cm and fd = 27.12 MHz cm протягом половини ВЧ періоду спостерігаються 4 інтенсивних іонізаційних піки: внаслідок стохастичного нагріву, а також формування пасивного, активного та додаткового (допоміжного) подвійних шарів. Додатковий подвійний шар сприяє підведенню електронів до поверхні тимчасового анода й виникає поблизу його поверхні всередині приелектродного шару. За допомогою закону подібності перевірено умови існування цих 4 піків іонізації в широкому діапазоні ВЧ частот f, значень тиску вуглекислого газу p та відстаней між електродами d.

Завантаження

##plugins.generic.usageStats.noStats##

Посилання

A. Lieberman, and A.J. Lichtenberg, Principles of Plasma Discharges and Materials Processing, 2nd ed. (Wiley, Hoboken, USA, 2005). https://doi.org/10.1002/0471724254

Yu.P. Raizer, M.N. Shneider, and N.A. Yatsenko, Radio-frequency Capacitive Discharges (CRC Press, Boca Raton, FL, 1995).

J. Reece Roth, Industrial Plasma Engineering. vol. 2: Applications to Nonthermal Plasma Processing (Bristol, IOP Publishing, 2001).

P. Chabert, and N. Braithwaite, Physics of Radio-Frequency Plasmas (Cambridge University Press, Cambridge, 2011).

M. Keidar, and I. Beilis, Plasma Engineering (Academic Press, London, 2018).

G. Colonna, and A. D'Angola, Plasma Modeling: Methods and applications (IOP Publishing, Bristol, 2022).

J.F. Friedrich, and J. Meichsner, Nonthermal Plasmas for Materials Processing: Polymer Surface Modification and Plasma Polymerization (Wiley-Scrivener, Hoboken, 2022).

L. Bardos, and H. Barankova, Microwave Plasma Sources and Methods in Processing Technology (Hoboken, Wiley-IEEE Press, 2022).

T. Shao, and Ch. Zhang, editors, Pulsed Discharge Plasmas: Characteristics and Applications (Springer, Singapore, 2023).

Ph. Belenguer, and J.P. Boeuf, Physical Review A, 41, 4447 (1990), https://doi.org/10.1103/PhysRevA.41.4447

V.A. Godyak, R.B. Piejak, and B.M. Alexandrovich, IEEE Transactions on Plasma Science, 19, 660 (1991). https://doi.org/10.1109/27.90309

V.A. Lisovskii, Technical Physics Letters, 24, 308 (1998). https://doi.org/10.1134/1.1262093

V. Lisovskiy, J.-P. Booth, S. Martins, K. Landry, D. Douai, and V. Cassagne, Europhysics Letters 71, 407 (2005). https://doi.org/10.1209/epl/i2005-10108-1

V. Lisovskiy, A. Minenkov, S. Dudin, S. Bogatyrenko, P. Platonov, and V. Yegorenkov, ACS Omega 7, 47941 (2022). https://doi.org/10.1021/acsomega.2c05846

S.Y. Moon, J.K. Rhee, D.B. Kim, and W. Choe, Physics of Plasmas, 13, 033502 (2006), https://doi.org/10.1063/1.2177590

V. Lisovskiy, J.-P. Booth, K. Landry, D. Douai, V. Cassagne, and V. Yegorenkov, J. Phys. D: Appl. Phys. 40, 6631 (2007). https://doi.org/10.1088/0022-3727/40/21/023

V. Lisovskiy, J.-P. Booth, J. Jolly, S. Martins, K. Landry, D. Douai, V. Cassagne, and V. Yegorenkov, J. Phys. D: Appl. Phys. 40, 6989 (2007), https://doi.org/10.1088/0022-3727/40/22/020

V. Lisovskiy, V. Yegorenkov, E. Artushenko, J.-P. Booth, S. Martins, K. Landry, D. Douai, and V. Cassagne, Plasma Sources Sci. Technol. 22, 015018 (2013). https://doi.org/10.1088/0963-0252/22/1/015018

V. Godyak, Phys. Plasmas, 27, 013504 (2020). https://doi.org/10.1063/1.5122957

M.A. Lieberman, IEEE Trans. Plasma Sci. 17, 338 (1989). https://doi.org/10.1109/27.24645

M.A. Lieberman, IEEE Trans. Plasma Sci. 16, 638 (1988). https://doi.org/10.1109/27.16552

A.J. Lichtenberg, V. Vahedi, M.A. Lieberman, and T. Rognlien, J. Appl. Phys. 75, 2339 (1994). https://doi.org/10.1063/1.356252

F. Hamaoka, T. Yagisawa, and T. Makabe, J. Phys: Conf. Series 86, 012018 (2007). https://doi.org/10.1088/1742-6596/86/1/012018

V.I. Kolobov, R.R. Arslanbekov, D. Levko, and V.A. Godyak, J. Phys. D: Appl. Phys. 53, 25LT01 (2020). https://doi.org/10.1088/1361-6463/ab7ca0

J.P. Verboncoeur, M. Alves, V. Vahedi, and C. Birdsall, Simultaneous potential and circuit solution for 1D bounded plasma particle simulation codes J. Comput. Phys. 104, 321 (1993). https://doi.org/10.1006/jcph.1993.1034

V. Vahedi, C.K. Birdsall, M.A. Lieberman, G. DiPeso, and T.D. Rognlien, Plasma Sources Sci. Technol. 2, 273 (1993). https://doi.org/10.1088/0963-0252/2/4/007

T. Lafleur, P. Chabert, and J.P. Booth, Plasma Sources Sci. Technol. 23, 035010 (2014). https://doi.org/10.1088/0963-0252/23/3/035010

E. Kawamura, M.A. Lieberman, A.J. Lichtenberg, and P. Chabert, J. Vac. Sci. Technol. A, 38, 023003 (2020). https://doi.org/10.1116/1.5135575

J.T. Gudmundsson, J. Krek, D.-Q. Wen, E. Kawamura, and M.A. Lieberman, Plasma Sources Sci. Technol. 30, 125011 (2021). https://doi.org/10.1088/1361-6595/ac3ba1

Z. Donkó, Plasma Sources Sci. Technol. 20, 024001 (2011). https://doi.org/10.1088/0963-0252/20/2/024001

J. Schulze, E. Schüngel, A. Derzsi, I. Korolov, Th. Mussenbrock, and Z. Donkó, IEEE Trans. Plasma Sci. 42, 2780 (2014). https://doi.org/10.1109/TPS.2014.2306265

M. Vass, S. Wilczek, T. Lafleur, R. P. Brinkmann, Z. Donko, and J. Schulze, Plasma Sources Sci. Technol. 29, 085014 (2020). https://doi.org/10.1088/1361-6595/aba111

D.A. Schulenberg, I. Korolov, Z. Donko, A. Derzsi, and J. Schulze, Plasma Sources Sci. Technol. 30, 105003 (2021). https://doi.org/10.1088/1361-6595/ac2222

D.-Q.Wen, J. Krek, J. T. Gudmundsson, E. Kawamura, M. A. Lieberman, P. Zhang, and J. P. Verboncoeur, Plasma Sources Sci. Technol. 32, 064001 (2023). https://doi.org/10.1088/1361-6595/acd6b4

A. Derzsi, B. Horváth, Z. Donkó, and J. Schulze, Plasma Sources Sci. Technol. 29, 074001 (2020). https://doi.org/10.1088/1361-6595/ab9156

S. Rauf, Plasma Sources Sci. Technol. 29, 095019 (2020). https://doi.org/10.1088/1361-6595/abac4a

L. Wang, P. Hartmann, Z. Donkó, Y.-H. Song, and J. Schulze, Plasma Sources Sci. Technol. 30, 085011 (2021). https://doi.org/10.1088/1361-6595/abf206

L. Wang, P. Hartmann, Z. Donkó, Y.-H. Song, and J. Schulze, J. Vac. Sci. Technol. A 39, 063004 (2021). https://doi.org/10.1116/6.0001327

S. Sharma, S. Patil, S. Sengupta, A. Sen, A. Khrabrov, and I. Kaganovich, Phys. Plasmas, 29, 063501 (2022). https://doi.org/10.1063/5.0094409

A. Picard, G. Turban, and B. Grolleau, J. Phys. D: Appl. Phys. 19, 991 (1986). https://doi.org/10.1088/0022-3727/19/6/014

N. Nakano, N. Shimura, Z. Lj. Petrovic, and T. Makabe, Phys. Rev. E, 49, 4455 (1994). https://doi.org/10.1103/PhysRevE.49.4455

Y.T. Lee, M.A. Lieberman, A.J. Lichtenberg, F. Bose, H. Baltes, and R. Patrick, J. Vac. Sci. Technol. A: Vacuum, Surfaces and Films, 15, 113 (1997). https://doi.org/https://doi.org/.1116/1.580452

M. Shibata, T. Makabe, and N. Nakano, Jpn. J. Appl. Phys. 37, 4182 (1998). https://doi.org/10.1143/JJAP.37.4182

V.A. Lisovskiy and V.D. Yegorenkov, Vacuum, 80, 458 (2006). https://doi.org/10.1016/j.vacuum.2005.07.038

J. Schulze, A. Derzsi, K. Dittmann, T. Hemke, J. Meichsner, and Z. Donkó, Phys. Rev. Lett. 107, 275001 (2011). https://doi.org/10.1103/PHYSREVLETT.107.275001

E. Kawamura, A.J. Lichtenberg, and M.A. Lieberman, J. Phys. D: Appl. Phys. 45, 495201 (2012). https://doi.org/10.1088/0022-3727/45/49/495201

V. Lisovskiy, and V. Yegorenkov, EPL, 99, 35002 (2012). https://doi.org/10.1209/0295-5075/99/35002

A. Proto, and J.T. Gudmundsson, J. Appl. Phys. 128, 113302 (2020). https://doi.org/10.1063/5.0019340

A. Proto, and J.T. Gudmundsson, Plasma Sources Sci. Technol. 30, 065009 (2021). https://doi.org/10.1088/1361-6595/abef1d

A. Derzsi, P. Hartmann, M. Vass, B. Horváth, M. Gyulai, I. Korolov, J. Schulze, and Z. Donko, Plasma Sources Sci. Technol. 31, 085009 (2022). https://doi.org/10.1088/1361-6595/ac7b45

C. Harvey, N. Sirse, C. Gaman, and A. R. Ellingboe, Phys. Plasmas, 27, 110701 (2020). https://doi.org/10.1063/5.0022844

A. Derzsi, M. Vass, R. Masheyeva, B. Horváth, Z. Donkó, and P. Hartmann, Plasma Sources Sci. Technol. 33, 025005 (2024). https://doi.org/10.1088/1361-6595/ad1fd5

R. Masheyeva, M. Vass, X.-K. Wang, Y.-X. Liu, A. Derzsi, P. Hartmann, J. Schulze, and Z. Donkó, Plasma Sources Sci. Technol. 33, 045019 (2024). https://doi.org/10.1088/1361-6595/ad3c69

R.A. Gottscho, Phys. Rev. A 36, 2233 (1987). https://doi.org/10.1103/PhysRevA.36.2233

R.A. Gottscho, and C.E. Gaebe, IEEE Trans. Plasma Sci. PS-14, 92 (1986). https://doi.org/10.1109/TPS.1986.4316511

J.-P. Boeuf, Phys. Rev. A, 36, 2782 (1987). https://doi.org/10.1103/PhysRevA.36.2782

J. P. Boeuf, and P. Belenguer, in Nonequilibrium Processes in Partially Ionized Gases, edited by M. Capitelli and J. N. Bardsley (Springer, New York, 1990). pp. 155–186. https://doi.org/10.1007/978-1-4615-3780-9_9

J.P. Boeuf, and L.C. Pitchford, Phys. Rev. E, 51, 1376 (1995). https://doi.org/10.1103/PhysRevE.51.1376

P. Vitruk, H. Baker, and D. Hall, IEEE J. Quantum Electronics, 30, 1623 (1994). https://doi.org/10.1109/3.299494

G.A.J. Markille, J.J. Baker, J.G. Betterton, and D.R. Hall, IEEE J. Quantum Electronics, 35, 1134 (1999). https://doi.org/10.1109/3.777212

R. Engelbrecht, R. Schulz, G. Seibert, J. Hagen, and L.-P. Schmidt, Frequenz, 59, 154 (2005). https://doi.org/10.1515/freq.2005.59.5-6.154

O. Svelto, Principles of lasers, (Springer, New York, 2009). 604 p.

A. Bogaerts, T. Kozak, K. van Laer, and R. Snoeckx, Faraday Discuss. 183, 217 (2015). https://doi.org/10.1039/C5FD00053J

T. Kozak, and A. Bogaerts, Plasma Sources Sci. Technol. 24, 015024 (2014). https://doi.org/10.1088/0963-0252/24/1/015024

R. Snoeckx, and A. Bogaerts, Chem. Soc. Rev. 46, 5805 (2017). https://doi.org/10.1039/C6CS00066E

A. Bogaerts, and G. Centi, Frontiers in Energy Research, 8, 111 (2020). https://doi.org/10.3389/fenrg.2020.00111

G. Chen, R. Snyders, and N. Britun, J. CO2 Utilization, 49, 101557 (2021). https://doi.org/10.1016/j.jcou.2021.101557

S. Dudin, V. Lisovskiy, P. Platonov, and S. Rezunenko, Problems of Atomic Science and Technology, 6(142), 84 (2022). https://vant.kipt.kharkov.ua/ARTICLE/VANT_2022_6/article_2022_6_84.pdf

V.A. Lisovskiy, S.V. Dudin, P.P. Platonov, and V.D. Yegorenkov, East European J. Phys. (4), 152 (2021). https://doi.org/10.26565/2312-4334-2021-4-20

V.A. Lisovskiy, S.V. Dudin, P.P. Platonov, and V.D. Yegorenkov, Problems of atomic science and technology, 6(130), 179 (2020). https://vant.kipt.kharkov.ua/ARTICLE/VANT_2020_6/article_2020_6_179.pdf

A.S. Morillo-Candas, V. Guerra, and O. Guaitella, J. Phys. Chem. C, 124, 17459 (2020). https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.0c03354

R. Vertongen, G. Trenchev, R. Van Loenhout, and A. Bogaerts, J. CO2 Utilization, 66, 102252 (2022). https://doi.org/10.1016/j.jcou.2022.102252

Q. Fu, Y. Wang, and Zh. Chang, J. CO2 Utilization, 70, 102430 (2023). https://doi.org/10.1016/j.jcou.2023.102430

E.R. Mercer, S. Van Alphen, C.F.A.M. van Deursen, T.W.H. Righart, W.A. Bongers, R. Snyders, A. Bogaerts, et al., Fuel, 334, 126734 (2023). https://doi.org/10.1016/j.fuel.2022.126734

S. Kelly, E. Mercer, Y. Gorbanev, I. Fedirchyk, C. Verheyen, K. Werner, P. Pullumbi, A. Cowley, and A. Bogaerts. J. CO2 Utilization, 80, 102668 (2024). https://doi.org/10.1016/j.jcou.2024.102668

Y. Long, X. Wang, H. Zhang, K. Wang, W.-L. Ong, A. Bogaerts, K. Li, et al., JACS Au, 4, 7 2462 (2024). https://doi.org/10.1021/jacsau.4c00153

G.J.M. Hagelaar and L.C. Pitchford, Plasma Sources Sci. Technol. 14, 722 (2005). https://doi.org/10.1088/0963-0252/14/4/011

L.C. Pitchford, L.L. Alves, K. Bartschat, S.F. Biagi, M.C. Bordage et al., Plasma Process. Polym. 14, 1600098 (2017). https://doi.org/10.1002/ppap.201600098

Y. Itikawa, J. Phys. Chem. Reference Data, 31, 749 (2002). https://doi.org/10.1063/1.1481879

V.A. Lisovskiy, S.V. Dudin, P.P. Platonov, and V.D. Yegorenkov, Physica Scripta, 98, 025601 (2023). https://doi.org/10.1088/1402-4896/acae48

H.W. Ellis, R.Y. Pai, E.W. McDaniel, E.A. Mason, and L.A. Viehland, Atomic Data and Nuclear Data Tables, 17, 177 (1976). https://doi.org/10.1016/0092-640X(76)90001-2

P. Coxon, and J. Moruzzi, J. Phys. Colloques, 40, 117 (1979). https://doi.org/10.1051/jphyscol:1979758

E.W. McDaniel, and H. Crane, Rev. Sci. Instruments, 28, 684 (1957). https://doi.org/10.1063/1.1715976

W.L. Nighan, and W.J. Wiegand, Phys. Rev. A, 10, 922 (1974). https://doi.org/10.1103/PhysRevA.10.922

C.S. Weller, and M.A. Biondi, Phys. Rev. Lett. 19, 59 (1967). https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.19.59

Yu.P. Raizer, Gas discharge physics, (Springer, Berlin, 1991).

T.D. Fansler, L.M. ColonnaRomano, and R.N. Varney, J. Chem. Phys. 66, 3246 (1977). https://doi.org/10.1063/1.434300

V. Lisovskiy, S. Dudin, A. Shakhnazarian, P. Platonov, and V. Yegorenkov, Problems of Atomic Science and Technology, 4(129), (2023). https://vant.kipt.kharkov.ua/ARTICLE/VANT_2023_4/article_2023_4_129.pdf

V.A. Lisovskiy, S.V. Dudin, M.M. Vusyk, R.O. Osmayev, V.D. Yegorenkov, and P.P. Platonov, Problems of Atomic Science and Technology, 186, (2023). https://vant.kipt.kharkov.ua/ARTICLE/VANT_2023_1/article_2023_1_86.pdf

P. Capezzuto, F. Cramarossa, R. D’Agostino, and E. Molinari, J. Phys. Chem. 80, 882 (1976). https://doi.org/10.1021/j100549a024

V. Lisovskiy, J.P. Booth, K. Landry, D. Douai, V. Cassagne, and V. Yegorenkov, Europhys. Lett. 82, 15001 (2008). https://doi.org/10.1209/0295-5075/82/15001

Y. Fu, H. Wang, and X. Wang, Rev. Modern Plasma Phys. 7, 10 (2023). https://doi.org/10.1007/s41614-022-00112-1

Y. Fu, B. Zheng, P. Zhang, Q.H. Fan, J.P. Verboncoeur, and X. Wang, Phys. Plasmas, 27, 113501 (2020). https://doi.org/10.1063/5.0022788

[Y. Fu, B. Zheng, D.-Q. Wen, P. Zhang, Q.H. Fan, and J.P. Verboncoeur, Appl. Phys. Lett. 117, 204101 (2020). https://doi.org/10.1063/5.0029518

Опубліковано
2024-09-02
Цитовано
Як цитувати
Лісовський, В., Дудін, С., ШахназарянA., Платонов, П., & Єгоренков, В. (2024). Чисельне моделювання динаміки ВЧ ємнісного розряду у вуглекислому газі. Східно-європейський фізичний журнал, (3), 172-187. https://doi.org/10.26565/2312-4334-2024-3-17