Computer indexing Laue diffraction pattern, the determination of the crystallographic orientation of the grains relative to the main directions in the crystal and the Schmid factor for all slip systems
Анотація
Описана комп›ютерна методика індиціювання лауеграмми, визначення кристалографічної орієнтації монокристалічного зразка (або окремого зерна полікристала) щодо основних напрямків у кристалі і факторів Шміда для всіх систем ковзання без використання побудови стереографічної проекції нормалей до відбиваючих площин.
Основним алгоритмом цієї методики є визначення та побудова системи одиничних векторів нормалей до відбиваючих площин за даними лауеграмми і умов її зйомки, аналогічні визначення системи радіус– векторів до кристалографічних площин відомої орієнтації кристала, суміщення їх в один центр і комп›ютерне розвертання цих систем відносно один одного до збігу перших радіус векторів з частиною останніх. Таким чином, визначаються індекси відбиваючих площин для лауеграмми. Після індіціювання лауеграмми програма дає можливість визначити кристалографічну орієнтацію дослідженого зразка та значення фактора Шміда для всіх систем ковзання.
Завантаження
Посилання
Уманский Я. С., Скаков Ю.А. , Иванов А.Н., Расторгуев Л.Н. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия, Металлургия, 1982.
Миркин Л.И. Рентгеноструктурный анализ. Индицирование рентгенограмм, 1981.
Бадиян Е.Е., Тонкопряд А.Г., Шеховцов О.В., Шуринов Р.В. Вісник ХНУ, № 558, серія «Фізика», вип. 6, 2002, с. 91 – 94.