Evolution of the excess conductivity in slightly doped YBa2Cu3O7-δ under high pressure
Анотація
В роботі досліджено вплив гідростатичного тиску до P = 1.05 ГПа на питомий опір, надлишкову провідність σ/(T) і псевдощілину (ПЩ) Δ*(T) в слабодопованому монокристалі YBa2Cu3O7-δ з (Tc (P = 0) ≈ 49.2 K і δ≈0.5 ). Вперше виявлено, що співвідношення БКШ 2∆*/kBTc і ПЩ ∆*(T) зростають зі збільшенням тиску, як dlnΔ*/dP ≈ 0.36 GPa-1, маючи на увазі збільшення сили зв’язку з тиском. Показано, що критична температура збільшується зі збільшенням тиску dTc/dP=+5.1 К·ГПа-1, в той час, як ρ(300)K зменшується dln ρ/dP = (-19±0.2)ГПа-1. Незалежно від тиску поблизу Tc σ/ (T) добре описується флуктуаційними теоріями Асламазова-Ларкіна і Хікамі- Ларкіна, демонструючи 3D- 2D кросовер при збільшенні температури. Температура кросовера T0 дозволяє визначити довжину когерентності ξс (0) ≈ (3.43 ± 0.01) А при P = 0 ГПа, яка зменшується з тиском.
Завантаження
Посилання
A. A. Kordyuk, arXiv:1501.04154v1 [cond-mat.suprcon] (2015).
R. Peters, and J. Bauer, arXiv:1503.03075v1 [condmat.suprcon] (2015).
C.W. Chu, P.H. Hor, R.L. Meng, L. Gao, A.J. Huang, Y.Q. Wang, Phys. Rev. Lett. 58 (1988) 405.
H.J. Liu, Q. Wang, G.A. Saunders, D.P. Almond, B. Chapman, K. Kitahama, Phys. Rev. B 51 (1995) 9167.
L.M. Ferreira, P. Pureur, H.A. Borges, P. Lejay, Phys. Rev. B 69 (2004) 212505.
L.J. Shen, C.C. Lam, J.Q. Li, J. Feng, Y.S. Chen, H.M. Shao, Supercond. Sci. Technol. 11 (1998) 1277.
Q. Wang, G.A. Saunders, H.J. Liu, M.S. Acres, D.P. Almond, Phys. Rev. B 55 (1997) 8529.
A.L. Solovjov, V.M. Dmitriev, Low Temp. Phys. 32 (2006) 99.
A.L. Solovjov, M.A. Tkachenko, Metallofiz. Noveishie Tekhnol. 35, (2013) 19,1112.3812v1 [cond-mat,supr-con] (2012).
R.V. Vovk, M.A. Obolenskii, A.A. Zavgorodniy, I.L. Goulatis, V.I. Beletskii, A.Chroneos, Physica C 469 (2009) 203.
R.V. Vovk, Z.F. Nazyrov, M.A. Obolenskii, I.L. Goulatis, A. Chroneos, V.M. Pinto Simoes, Philos. Mag. 91 (2011) 2291.
R.V. Vovk, M.A. Obolenskii, Z.F. Nazyrov, I.L. Goulatis, A. Chroneos, V.M. Pinto Simoes, J. Mater Sci.: Mater. Electron. 23 (2012) 1255.
R.V. Vovk, M.A. Obolenskii, A.A. Zavgorodniy, A.V. Bondarenko, I.L. Goulatis,A.V. Samoilov, A.I. Chroneos, J. Alloys Comp. 453 (2008) 69.
A.L. Solovjov, M.A. Tkachenko, R.V. Vovk, M.A. Obolenskii, Low Temp. Phys. 37 (2011) 840.
B. Wuyts, V. V. Moshchalkov, and Y. Bruynseraede. Phys. Rev. B 53, (1996) 9418.
T. Ito, K. Takenaka, S. Uchida, Phys. Rev. Lett. 70 (1993) 3995.
Y. Ando, S. Komiya, K. Segawa, S. Ono, Y. Kurita, Phys. Rev. Lett. 93 (2004) 267001.
T. Ito, K. Takenaka, S. Uchida, Phys. Rev. Lett. 70 (1993) 3995.
B. P. Stojkovic, D. Pines, Phys. Rev. B 55, 8576 (1997).
E. V. L. de Mello, M. T. D. Orlando, J. L. Gonzalez, E. S. Caixeiro, and E. Baggio-Saitovich, Phys. Rev. B, 66, (2002) 092504.
A. L. Solovjov, M. A. Tkachenko, R. V. Vovk , A. Chroneos, Physica C 501, (2014) 24.
A. Maisuradze, A. Shengelaya, A. Amato, E. Pomjakushina, and H. Keller. Phys. Rev. B 84, (2011) 184523.
J. S. Schilling and S. Klotz, in Physical Properties of HighTemperature Superconductors, edited by D. M. Ginsberg (World Scientific, Singapore, 1992), vol. 3, p. 59.
W. Lang, G. Heine, P. Schwab, X. Z. Wang, and D. Bauerle, Phys. Rev. B, 49, 4209 (1994).
B. Oh, K. Char, A. D. Kent, M. Naito, M. R. Beasley et al., Phys. Rev. B, 37, 7861 (1988).
R. K. Nkum and W. R. Datars, Phys. Rev. B, 44, 12516 (1991).
E. M. Lifshitz and L. P. Pitaevski, Statistical Physics, vol. 2, Moscow: Nauka, 1978.
L.G. Aslamazov, A.L. Larkin, Phys. Lett. 26A (1968) 238.
Y. B. Xie, Phys. Rev. B, 46, (1992) 13997.
S. Hikami, A.I. Larkin, Mod. Phys. Lett. B, 2, (1988) 693.
A.L. Solovjov, H.-U. Habermeier, T. Haage, Low Temp. Phys., 28, (2002) 22, and, 28, (2002) 144.
G.D. Chryssikos, E.I. Kamitsos, J.A. Kapoutsis et al.: Physica C 254, 44 (1995).
V. J. Emery and S. A. Kivelson, Nature, 374, 434 (1995).
H-Y. Choi, Y. Bang, and D. K. Campbell, Phys. Rev. B 61, 9748 (200).
D.S. Inosov, J.T. Park, A. Charnukha, Yuan Li, A.V. Boris, B. Keimer, V. Hinkov, Phys. Rev. B 83, 214520 (2011).
A.I. D’yachenko, V.Yu. Tarenkov, Phys. Techn. High Press. 24, (2014) 24.