Вплив міді на властивості оксиду цинку – огляд
Анотація
ZnO переживає дослідницький ренесанс протягом декількох років завдяки своїм перспективним властивостям в області електроніки та газодетектування. Він має відносно велику Eg = 3,37 еВ при кімнатній температурі, значну енергію зв'язку екситону (60 меВ) і провідність n-типу. Однією з найважливіших переваг ZnO є йогоздатність точно регулювати провідність та заборонену енергію за допомогою допіювання.Допіювання у перехідних металах може посилити фізичні, хімічні та оптичні властивості оксиду цинку. Одним з таких матеріалів є мідь, що виявляється цікавою добавкою завдяки своїй високій електропровідності та подібним іонним радіусам. Можливість досягнення напівметалевого феромагнетизму, провідності p-типу або зміщення краю люмінесценції в область синього спектру виявляється цікавою особливістю для сучасної електроніки. Більш того, допіювання Cu може збільшити тепловий опір, тоді мідь можна застосовувати як матеріал для надпотужних пристроїв.Ця робота складається з детального огляду досліджень ZnO, допійованого міддю. Перша частина статті складається з глибокого вивчення властивостей ZnO та доцільності допіювання міддю структур з ZnO. Завдяки широкому розмаїттю методів синтезу друга частина складається з досліджень методів виробництва таких структур. Центральна частина статті співвідноситься з дослідженнями структурної та оптичної характеризації ZnO, допійованого Cu; таким чином, основна частина цього документу розділена на три розділи. Для кристалічної структури отримано аналіз зразків рентгенограми, який дає інформацію про субфази, що можуть утворитися внаслідок допіювання. Крім того поглинання у ультрафіолетовому та видимому діапазонах дає змогу зрозуміти зонну структуру нового матеріалу. Нарешті, короткий розділ про фотолюмінесценцію звертає увагу на потенційні можливості використання у світлодіодах.Ключові слова:кристалічна структура, легування, фотолюмінесценція.
Завантаження
Посилання
Chithra M. J., Pushpanathan K., Modern Physics Letters B (2016), 30 https://doi.org/10.1142/S0217984916504066
Sajjad M., et al., Results in Physics, (2018) 9, p. 1301-1309 https://doi.org/10.1016/j.rinp.2018.04.010
Sonawane Y. S., et al., Materials Research Bulletin (2008) 43, p. 2719-2726 https://doi.org/10.1016/j.materresbull.2007.10.014
Gong H., et al., Sensors and Actuators B: Chemical (2006) 115, s. 247-251 https://doi.org/10.1016/j.snb.2005.09.008
Gonzalez-Vidal J. L., Revista Mexicana de Fisica, (2006), 52
Paraguay F., Miki-Yoshida M., Superficies y Vacio, (1999), 9, s. 245
Peng L., et al., Sensors and Actuators B (2008), 131, s. 660-664 https://doi.org/10.1016/j.snb.2007.12.060
Ye, L. H., et al., Physical Review B (2006)., 73(3), 73-76. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.73.081304
Hausmann, et al. Zeitschrift Für Physik B Condensed Matter (1980) 40, 1. https://doi.org/10.1007/BF01295062
Znaidi, L., Materials Science and Engineering B (2010), 174, 18-30 https://doi.org/10.1016/j.mseb.2010.07.001
Liu, H.; et al., Applied Surface Science (2010), 256, 4162-4165, https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2010.01.118
Banu Bahşi, Z.; Oral, AY, Optical Materials (2007), 29, 672-678, https://doi.org/10.1016/j.optmat.2005.11.016
Tamil Illakkiya, J, et al., Emerging Materials Research (2016), 5, 57-61, https://doi.org/10.1680/jemmr.15.00022
Fernandes D. M., et al., Materials Chemistry and Physics, (2009), 115, s. 110-115 https://doi.org/10.1016/j.matchemphys.2008.11.038
Udayabhaskar, R.; Karthikeyan, B., Journal of Applied Physics (2014), 115, 1-8, https://doi.org/10.1063/1.4870447
Muthukumaran, S., et al., Optical Materials (2012)., 34(11), 1946-1953. https://doi.org/10.1016/j.optmat.2012.06.004
Allabergenov B., et al., Optical Materials Express (2013), 3, s. 1733-1741 https://doi.org/10.1364/OME.3.001733
Rodnyi, P.A., et al., Optics and Spectroscopy (2011), 111, 776-785, https://doi.org/10.1134/S0030400X11120216
Wang, Z.L., Journal of Physics Condensed Matter (2004), 16, 829-858 https://doi.org/10.1088/0953-8984/16/23/R02
Ferhat M., et al., Appl. Phys. Lett. (2009), 94, 142502 https://doi.org/10.1063/1.3112603
Viswanatha R., et al., J. Phys. Chem. B ( 2006), 110, 45, 22310-22312 https://doi.org/10.1021/jp065384f
R.B. Bylsma, et al, Phys. Rev. B (1986, 33 8207. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.33.8207