ВИКОРИСТАННЯ НЕКОГЕРЕНТНОГО РОЗСІЮВАННЯ ДЛЯ УРАХУВАННЯ МАТРИЧНИХ ЕФЕКТІВ ПРИ РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНОМУ ВИЗНАЧЕННІ ВМІСТУ Ti, Mn, Fe И U В УРАНОВИХ РУДАХ
Анотація
У роботі наведені результати розробки способу урахування матричних ефектів при рентгенофлуоресцентному визначенні вмісту Ti, Mn, Fe и U в стандартних зразках складу уранової руди силікатного типу з використанням спектрометра з хвильової дисперсією S 8 Tiger (Bruker AXS GmbH, Німеччина). Проведено порівняння результатів аналізу, отриманих за допомогою стандартного пакета програм Spectra Plus спектрометра і нормованих на інтенсивність характеристичної лінії первинного випромінювання, некогерентно розсіяного пробою, для урахування матричних ефектів. Показано, що для
досліджуваних елементів при рентгенофлуоресцентному визначенні їх вмістів, крім нормування інтенсивності необхідно вводити додаткові аналітичні поправки. Використання розробленого способу для розрахунку уточнених значень вмістів TiO2, MnO, Fe2O3 и U3O8 дозволяє знизити відносну похибку вимірювань до < 5 % в інтервалі вмістів 0,1…4 ваг. % і до ≤ 7,5 % в інтервалі вмістів 0,04…0,06 ваг. %.
Завантаження
Посилання
Afonin V.P., Gunicheva T.N., Piskunova L.F. Rentgenofluorescentnyj silikatnyj analiz. – Novosibirsk: Nauka, 1984. – 227 s.
Losev N.F. Kolichestvennyj rentgenospektral'nyj fluorescentnyj analiz. – Moskva: Nauka, 1969. – 338 s.
Losev N.F., Smagunova A.N. Osnovy rentgenospektral'nogo fluorescentnogo analiza. – Moskva: Himija, 1982. – 208 s.
Jerhardt H. Rentgenofluorescentnyj analiz: per. s nem. – Moskva: Metallurgija, 1986. – 256 s.
Reynolds R.C. Matrix correction in trace element analysis by X-ray fluorescence: Estimation of mass absorption coefficient by Compton scattering // The American Mineralogist. – 1963. – Vol. 48. – P. 1133-1143.
Luhrmann M., Wegener F., Kettrup A. Application of a method for matrix correction using Compton-scattering for quantitative determination of metals in silica by wavelength dispersive X-ray fluorescence spectroscopy // Anal. Chem. – 1986. – Vol. 323. – P. 132-134.
Sheng X.B. A power function relation between mass attenuation coefficient and Rh Kα Compton peak intensity and its application to XRF analysis // X-ray Spectrometry. – 1997. – Vol. 26. – P. 23-27.
Analysis of trace elements in basalts by shipboard X-ray fluorescence spectrometry: Initial report of the deep sea drilling project. – Washington: U.S. Govt. Printing Office; No. 82, 1985. – 10 p.
Liangyuan F., Huilan B., Ruoling L., Yawen Zh. XRF determination of 17 trace elements in geological samples using an extended Compton scattering correction procedure // Chinese Journal of Geochemestry. – 1990. – Vol. 9(1). – P. 77-85.
Criss J.W., Birks L.S. Calculation methods for fluorescent X-ray spectrometry // Anal. Chem. – 1968. – Vol. 40(7). – P. 1080-1086.
Автори, які публікуються у цьому журналі, погоджуються з наступними умовами:
- Автори залишають за собою право на авторство своєї роботи та передають журналу право першої публікації цієї роботи на умовах ліцензії Creative Commons Attribution License, котра дозволяє іншим особам вільно розповсюджувати опубліковану роботу з обов'язковим посиланням на авторів оригінальної роботи та першу публікацію роботи у цьому журналі.
- Автори мають право укладати самостійні додаткові угоди щодо неексклюзивного розповсюдження роботи у тому вигляді, в якому вона була опублікована цим журналом (наприклад, розміщувати роботу в електронному сховищі установи або публікувати у складі монографії), за умови збереження посилання на першу публікацію роботи у цьому журналі.
- Політика журналу дозволяє і заохочує розміщення авторами в мережі Інтернет (наприклад, у сховищах установ або на особистих веб-сайтах) рукопису роботи, як до подання цього рукопису до редакції, так і під час його редакційного опрацювання, оскільки це сприяє виникненню продуктивної наукової дискусії та позитивно позначається на оперативності та динаміці цитування опублікованої роботи (див. The Effect of Open Access).
