Гетеропереходи pSi/n-CdₓS₁₋ₓ, створені за допомогою технології BANDGAP: вплив складу на оптоелектронні властивості

  • Іброхім Б. Сапаєв Національний дослідницький університет ТІІАМЕ, кафедра «Фізика та хімія», Ташкент, Узбекистан; Ташкентський університет прикладних наук, Ташкент, Узбекистан; Інженерний факультет, Центральноазіатський університет, Ташкент, Узбекистан; Азербайджанський державний університет нафти та промисловості (АДУНП), факультет хімічної технології, Баку, Азербайджан https://orcid.org/0000-0003-2365-1554
  • Джамоліддін І. Раззоков Інститут фундаментальних та прикладних досліджень, Національний дослідницький університет ТІІАМЕ, Ташкент, Узбекистан; Кафедра біотехнології, Ташкентський державний технічний університет, Ташкент, Узбекистан
  • Джошкін Ш. Абдуллаєв Національний дослідницький університет ТІІАМГ, Ташкент, Узбекистан https://orcid.org/0000-0001-6110-6616
  • Дільдора А. Каландарова Ургенчський державний університет, Ургенч, Узбекистан
  • Мадінабону Ш. Ібрагімова Ургенчський державний університет, Ургенч, Узбекистан
Ключові слова: оптоелектронні властивості, електростатичний аналіз, інженерія забороненої зони, ; гетероперехід pSi/n-CdₓS₁₋ₓ, температура Дебая, модуляція вбудованого потенціалу, калібрування параметрів

Анотація

У цьому дослідженні представлено всебічне вивчення електрофізичних властивостей гетеропереходу pSi/n-CdₓS₁₋ₓ, у якому кадмієва складова x змінюється в межах від 0 до 1. Аналіз базується на поєднанні теоретичного моделювання, чисельного моделювання та експериментальної перевірки, виконаних для типових рівнів легування: p = 2×10¹⁷ см⁻³ для пористого p-кремнію та n = 1×10¹⁸ см⁻³ для n-CdₓS₁₋ₓ. Особливу увагу приділено температурозалежній поведінці ключових матеріальних параметрів, зокрема ширини забороненої зони E₉(T), концентрації власних носіїв nᵢ(T) та температури Дебая Θ(x). Встановлено, що зі збільшенням частки кадмію спостерігається звуження забороненої зони CdₓS₁₋ₓ, тоді як пористий кремній зберігає відносно широку та термічно стабільну E₉(T), що забезпечує значне зонне вирівнювання (ΔE₉) і сприяє ефективному розділенню носіїв заряду на межі поділу. Зменшення Θ(x) зі зростанням вмісту кадмію впливає на інтенсивність фононного розсіювання та рекомбінаційні процеси, змінюючи механізм перенесення струму. Аналіз струмопереносу показує, що поведінка гетеропереходу значною мірою визначається температурно- та композиційно-залежним вирівнюванням зон і динамікою рекомбінації. Отримані результати підтверджують адекватність запропонованої фізичної моделі та демонструють перспективність структур pSi/n-CdₓS₁₋ₓ для використання у високотемпературних та акустично керованих оптоелектронних пристроях.

Завантаження

##plugins.generic.usageStats.noStats##

Посилання

W. Duncan, and A.R. Smellie, “Si–CdS heterojunction memory diodes,” J. Appl. Phys. 49(8), 4098–4104 (1978). https://doi.org/10.1063/1.325371

N.D. Akhavan, I. Ferain, P. Razavi, R. Yu, and J.-P. Colinge, “Junctionless multigate transistors : fabrication and performance,” Appl. Phys. Lett. 98(10), 103510 (2011). https://doi.org/10.1063/1.3559625

A.V. Babichev, H. Zhang, P. Lavenus, F.H. Julien, A.Y. Egorov, Y.T. Lin, and M. Tchernycheva, “Nanowire heterojunction optoelectronics,” Appl. Phys. Lett. 103(20), 201103 (2013). https://doi.org/10.1063/1.4829756

B. Pal, K.J. Sarkar, and P. Banerji, “Optical and electronic properties of nanostructured solar cells,” Sol. Energy Mater. Sol. Cells 204, 110217 (2020). https://doi.org/10.1016/j.solmat.2019.110217

I. Aberg, G. Vescovi, D. Asoli, U. Naseem, J.P. Gilboy, C. Sundvall, and L. Samuelson, “III–V nanowire photovoltaics on silicon,” IEEE J. Photovoltaics, 6(1), 185–190 (2016). https://doi.org/10.1109/JPHOTOV.2015.2484967

P. Dubey, B. Kaushik, and E. Simoen, “Analytical modeling of advanced nano-CMOS devices,” IET Circuits Devices Syst. (2019). https://doi.org/10.1049/iet-cds.2018.5169.

A.M. de Souza, D.R. Celino, R. Ragi, and M.A. Romero, “Emerging devices modeling,” Microelectron. J. 119, 105324 (2021). https://doi.org/10.1016/j.mejo.2021.105324

D.B. Istamov, O.A. Abdulkhayev, and Sh.M. Kuliyev, “Limiting characteristics of silicon diode temperature sensors for determining the maximum temperature with specified measurement accuracy,” UNEC J. Eng. Appl. Sci. 5(1), 63-69 (2025). https://doi.org/10.61640/ujeas.2025.0507

D.B. Istamov, O.A. Abdulkhayev, Sh.M. Kuliyev, N. Abdullayev, A.Sh. Ashirov, and D.M. Yodgorova, “Temperature response curve of silicon diode temperature sensors,” East Eur. J. Phys. (2), 287-291 (2025). https://doi.org/10.26565/2312-4334-2025-2-35

R. Seoudi, A.A. Shabaka, M. Kamal, E.M. Abdelrazek, and W. Eisa, “Size-dependent CdS nanoparticle characteristics,” Physica E, 45, 47–55 (2012). https://doi.org/10.1016/j.physe.2012.07.006

J.Sh. Abdullayev, and I.B. Sapaev, “Optimization of temperature effects in radial p–n junctions,” East Eur. J. Phys. (3), 344–349 (2024). https://doi.org/10.26565/2312-4334-2024-3-39

J.Sh. Abdullayev, and I.B. Sapaev, “Temperature and doping optimization in p–n and p–i–n devices,” Eurasian Phys. Tech. J. 21(3), 21–28 (2024). https://doi.org/10.31489/2024No3/21-28

J.Sh. Abdullayev, “Effect of linear doping on p–n junction properties,” East Eur. J. Phys. (1), 245–249 (2025). https://doi.org/10.26565/2312-4334-2025-1-26

R.D. Trevisoli, R.T. Doria, M. de Souza, S. Das, I. Ferain, and M.A. Pavanello, “Repetition,” IEEE Trans. Electron Devices, 59(12), 3510 (2012). https://doi.org/10.1109/TED.2012.2219055

J.Sh. Abdullayev, and I.B. Sapaev, “Ideality factor variation at cryogenic temperatures,” East Eur. J. Phys. (4), 329–333 (2024). https://doi.org/10.26565/2312-4334-2024-4-37

A.V. Babichev, H. Zhang, P. Lavenus, F.H. Julien, A.Y. Egorov, Y.T. Lin, and M. Tchernycheva, “GaN nanowire ultraviolet photodetector with a graphene transparent contact,” Appl. Phys. Lett. 103(20), 201103 (2013). https://doi.org/10.1063/1.4829756

J.Sh. Abdullayev, I.B. Sapaev, and Kh.N. Juraev, “Incomplete ionization analysis in radial p–n junctions,” Low Temp. Phys. 51, 60–64 (2025). https://doi.org/10.1063/10.0034646

J.Sh. Abdullayev, and I.B. Sapaev, “GaAs/Si heterojunction analysis,” East Eur. J. Phys. (1), 204–210 (2025). https://doi.org/10.26565/2312-4334-2025-1-21

R. Bebitov, O. Abdulkhaev, D. Yodgorova, D. Istamov, G. Khamdamov, Sh. Kuliyev, J.Sh. Abdullaev, et al., “Potential distribution over temperature sensors of p-n junction diodes with arbitrary doping of the base region,” E3S Web Conf. 401, 03062 (2023). https://doi.org/10.1051/e3sconf/202340103062

R.R. Bebitov, O.A. Abdulkhaev, D.M. Yodgorova, D.B. Istamov, G.M. Hamdamov, Sh.M. Kuliyev, A.A. Khakimov, and A.Z. Rakhmatov, “Dependence of the accuracy of the silicon diode temperature sensors for cryogenic thermometry on the spread of their parameters,” Journal "Low Temperature Physics, 49(2), 277–282 (2023). https://doi:10.1063/10.0016843

R.R. Bebitov, O.A. Abdulkhaev, D.M. Yodgorova, D.B. Istamov, Sh.M. Kuliyev, A.A. Khakimov, A.B. Bobonazarov, et al, “Distribution of impurities in base-depleted region of diode temperature sensor,” Low Temperature Physics, 50(5), 418–424 (2024). https://doi:https://doi.org/10.1063/10.0025635

J.Sh. Abdullayev, and I.B. Sapaev, “Modeling Si and GaAs junctions,” Phys. Sci. Technol. 11(3–4), 39–48 (2024). https://doi.org/10.26577/phst2024v11i2b05

O. Toqtarbayuly, M. Baysariev, A. Qaysha, et al., “Enhancing dye-sensitized solar cell efficiency using gas-phase CVD GaN,” Eurasian Phys. Tech. J. 21(4), 131–139 (2024). https://doi.org/10.31489/2024No4/131-139

I. Sapaev, I.B. Sapaev, et al., “Conference paper on p–n junction features,” E3S Web Conf. 383, 04022 (2023). https://doi.org/10.1051/e3sconf/202338304022

J.Sh. Abdullayev, I. Sapaev, N. Esanmuradova, S. Kadirov, and S. Kuliyev, “Temperature and concentration in radial p–n junctions,” East Eur. J. Phys. (2), 220–225 (2025). https://doi.org/10.26565/2312-4334-2025-2-24

J.Sh. Abdullayev, I.B. Sapaev, and S.R. Kadirov, “Recombination's effect on radial p–n junction efficiency,” East Eur. J. Phys. (2), 252–257 (2025). https://doi.org/10.26565/2312-4334-2025-2-30

N.V. Deshmukh, T.M. Bhave, A.S. Ethiraj, et al., “PL and I–V characteristics of CdS-nanoparticles/porous-Si,” Nanotechnology 12(3), 290–294 (2001). https://doi.org/10.1088/0957-4484/12/3/316

R. Zellagui, H. Dehdouh, M. Adnane, M.S. Akhtar, and M.A. Saeed, “CBD deposition of CdₓZn₁₋ₓS thin films,” Optik, 164, 164377 (2020). https://doi.org/10.1016/j.ijleo.2020.164377

N.A. Shah, A. Ali, S. Hussain, A. Maqsood, “CdCl₂-treated CdTe films via sublimation,” J. Coatings Technol. Res. 7(1), 105–110 (2008). https://doi.org/10.1007/s11998-008-9146-0

J.Sh. Abdullayev, L. Abdullayeva, L. Agamalieva, and R. Ismailova, “Correlating Ni microstructure with Schottky barrier homogeneity in monolayer MoS₂ field-effect transistors,” Advanced Physical Research, 7(3), 350–357 (2025). https://doi.org/10.62476/apr.73350

O.O. Akinwunmi, G.O. Egharevba, and E.O.B. Ajayi, “CdS, ZnS, CdZnS nanoparticles embedded in polystyrene,” J. Modern Phys. 5(5), 416–423 (2014). https://doi.org/10.4236/jmp.2014.55036

C.-F. Wang, B. Hu, H.-H. Yi, and W.-B. Li, “Optoelectronic characterization of ZnS/silicon systems,” Chin. Opt. Lett. 7(6), 481 484 (2009). https://doi.org/10.3788/COL20090705.0432

J.Sh. Abdullayev, I.B. Sapaev, J.Sh. Abdullayev, D.A. Juraev, M.J. Jalalov, and E.E. Elsayed, “Mathematical Modeling of Incomplete Ionization in Radial p-Si/n-GaAs Heterojunctions: Temperature and Doping Effects,” Journal of Electronic Materials, 54, 1–9 (2025). https://doi.org/10.1007/s11664-025-12391-8

A. Laouid, A.A. Belghiti, K. Wisniewski, et al., “Mn/Ca-doped ZnS thin films: morphology and PL,” Mater. Chem. Phys. 290, 127870 (2024). https://doi.org/10.1016/j.matchemphys.2024.129270

J. Xiang, H. Wang, X. Wang, X. Chen, T. Wu, H. Wan, Y. Liu, and H. Wang, “CdₓZn₁₋ₓS nanocrystals for visible-light photocatalysis,” RSC Adv. 9(7), 4001–4007 (2019). https://doi.org/10.1039/C8RA09408J

M. Wang, A. Debernardi, Y. Berencén, R. Heller, C. Xu, Y. Yuan, et al., “Breaking doping limit in silicon via deep impurities,” Phys. Rev. Appl. 11(5), 054039 (2019). https://doi.org/10.1103/PhysRevApplied.11.054039

Опубліковано
2025-12-08
Цитовано
Як цитувати
Сапаєв, І. Б., Раззоков, Д. І., Абдуллаєв, Д. Ш., Каландарова, Д. А., & Ібрагімова, М. Ш. (2025). Гетеропереходи pSi/n-CdₓS₁₋ₓ, створені за допомогою технології BANDGAP: вплив складу на оптоелектронні властивості. Східно-європейський фізичний журнал, (4), 442-448. https://doi.org/10.26565/2312-4334-2025-4-44
Розділ
Статті