Фактори, що впливають на коефіцієнт ідеальності напівпровідникових p-n та p-i-n перехідних структур при кріогенних температурах

  • Джошкін Ш. Абдуллаєв Національний дослідницький університет TIIAME, фізико-хімічний факультет, Ташкент, Узбекистан https://orcid.org/0000-0001-6110-6616
  • Іброхім Б. Сапаєв Національний дослідницький університет TIIAME, фізико-хімічний факультет, Ташкент, Узбекистан; Західно-Каспійський університет, Баку, Азербайджан https://orcid.org/0000-0003-2365-1554
Ключові слова: p-n перехід, p-i-n перехід, рекомбінація за механізмом Шоклі-Ріда-Холла (SRH), внутрішні функціональні параметри, зовнішні фактори, фактор ідеальністі, кріогенні температури

Анотація

У цій статті висвітлюється залежність ідеальності фактора як від внутрішніх функціональних параметрів, так і від зовнішніх факторів у напівпровідниках при низьких температурах. Ми дослідили вплив зовнішніх факторів, таких як температура та напруга зовнішнього джерела. За допомогою чисельного моделювання та теоретичного аналізу ми детально вивчили залежності внутрішніх функціональних параметрів напівпровідникових матеріалів, включаючи концентрацію домішок, ширину забороненої зони напівпровідників, тривалість життя носіїв заряду та геометричні розміри в діапазоні від мікрометрів до нанометрів, на ідеальність фактора в структурах p-n і p-i-n переходів. Наш аналіз охоплює кріогенні температури від 50 К до 300 К з інтервалом 50 К. Для проведення цього дослідження ми зосередилися на структурах p-n і p-i-n переходів, виготовлених з Si та GaAs. Обрана модель має геометричні розміри a=10 мкм, b=8 мкм і c=6 мкм. Товщина i-шару варіювалася від 10 мкм до 100 мкм з кроком 10 мкм. Збільшення товщини i-шару призводить до відповідного збільшення ідеальності фактора.

Завантаження

##plugins.generic.usageStats.noStats##

Посилання

S.M. Sze, and K.K. Ng, Physics of Semiconductor Devices, third edition, (John Wiley & Sons, Inc., 2007).

E. Gnani, A. Gnudi, S. Reggiani, and G. Baccarani, IEEE Trans. Electron Devices, 58(9), 2903 (2011). https://doi.org/10.1109/TED.2011.2159608

Z. Arefinia, A. Asgari, Solar Energy Materials and Solar Cells, 137, 146 (2015). https://doi.org/10.1016/j.solmat.2015.01.032

O.V. Pylypova, A.A. Evtukh, P.V. Parfenyuk, I.I. Ivanov, I.M. Korobchuk, O.O. Havryliuk, and O.Yu. Semchuk, Opto-Electronics Review, 27(2), 143 (2019). https://doi.org/10.1016/j.opelre.2019.05.003

R. Ragi, R.V.T. da Nobrega, U.R. Duarte, and M.A. Romero, IEEE Trans. Nanotechnol. 15(4), 627 (2016). https://doi.org/10.1109/TNANO.2016.2567323

R.D. Trevisoli, R.T. Doria, M. de Souza, S. Das, I. Ferain, and M.A. Pavanello, IEEE Trans. Electron Devices, 59(12), 3510 (2012). https://doi.org/10.1109/TED.2012.2219055

N.D. Akhavan, I. Ferain, P. Razavi, R. Yu, and J.-P. Colinge, Appl. Phys. Lett. 98(10), 103510 (2011). https://doi.org/10.1063/1.3559625

A.V. Babichev, H. Zhang, P. Lavenus, F.H. Julien, A.Y. Egorov, Y.T. Lin, and M. Tchernycheva, Applied Physics Letters, 103(20), 201103 (2013). https://doi.org/10.1063/1.4829756

D.H.K. Murthy, T. Xu, W.H. Chen, A.J. Houtepen, T.J. Savenije, L.D.A. Siebbeles, et al., Nanotechnology, 22(31), 315710 (2011). https://doi.org/10.1088/0957-4484/22/31/315710

B. Pal, K.J. Sarkar, and P. Banerji, Solar Energy Materials and Solar Cells, 204, 110217 (2020). https://doi.org/10.1016/j.solmat.2019.110217

J.Sh. Abdullayev, I.B. Sapaev, Eurasian Physical Technical Journal, 21(3), 21–28 (2024). https://doi.org/10.31489/2024No3/21-28

P. Dubey, B. Kaushik, and E. Simoen, IET Circuits, IET Circuits, Devices & Systems, (2019). https://doi.org/10.1049/iet-cds.2018.5169

M.-D. Ko, T. Rim, K. Kim, M. Meyyappan, and C.-K. Baek, Scientific Reports, 5(1), 11646 (2015). https://doi.org/10.1038/srep11646

A.M. de Souza, D.R. Celino, R. Ragi, and M.A. Romero, Microelectronics J. 119, 105324 (2021). https://doi.org/10.1016/j.mejo.2021.105324

M.C. Putnam, S.W. Boettcher, M.D. Kelzenberg, D.B. Turner-Evans, J.M. Spurgeon, E.L. Warren, et al., Energy & Environmental Science, 3(8), 1037 (2010). https://doi.org/10.1039/C0EE00014K

Abdullayev, J. S., & Sapaev, I. B. (2024). East European Journal of Physics, (3), 344-349. https://doi.org/10.26565/2312-4334-2024-3-39R

Elbersen, R.M. Tiggelaar, A. Milbrat, G. Mul, H. Gardeniers, and J. Huskens, Advanced Energy Materials, 5(6), 1401745 (2014). https://doi.org/10.1002/aenm.201401745

Цитування

Mathematical Modeling of Electrostatic Potential in Radial and Planar p–n Junctions: A Comparative Study
Qalandarova Dildora A., Ibragimova Madinabonu Sh., Abdullayev Jo‘shqin Sh. & Sapaev Ibrokhim B. (2026) East European Journal of Physics
Crossref

Modeling of Optoelectronic Properties in pSi/n-CdmZn1−mS Heterojunctions: Effects of Composition and Temperature
Abdullayev Jo’shqin Sh., Sapaev Ibrokhim B., Kadirov Sardor R. & Abdullayev Jonibek Sh. (2025) Journal of Electronic Materials
Crossref

The Role of Recombination Types in Efficiency Limits of Radial p n junctions based on Si and GaAs
Abdullayev Jo`shqin Sh., Sapaev Ibrokhim B. & Kadirov Sardor R. (2025) East European Journal of Physics
Crossref

Experimental and Simulation-Based Investigation of p-Si/n-CdS Heterojunctions: From Cryogenic Freeze-Out to Room Temperature Operation
Abdullayev J. Sh., Qalandarova D. A., Ibragimova M. Sh., Sapaev I. B. & Razzokov J. I. (2026) Journal of Electronic Materials
Crossref

Cryogenic Material and Electrophysical Changes in Si and GaAs
Abdullayev Jonibek Sh., Ibragimova Madinabonu Sh., Abdullayev Jo‘shqin Sh. & Sapaev Ibrokhim B. (2026) East European Journal of Physics
Crossref

Analytic Analysis of the Features of GaAs/Si Radial Heterojunctions: Influence of Temperature and Concentration
Abdullayev Jo`shqin Sh. & Sapaev Ibrokhim B. (2025) East European Journal of Physics
Crossref

Bandgap-Engineered pSi/n-CdₓS₁₋ₓ Heterojunctions: Effect of Composition on Optoelectronic Behavior
Sapaev Ibrokhim B., Razzokov Jamoliddin I., Abdullayev Jo‘shqin Sh., Qalandarova Dildora A. & Ibragimova Madinabonu Sh. (2025) East European Journal of Physics
Crossref

Опубліковано
2024-12-08
Цитовано
Як цитувати
Абдуллаєв, Д. Ш., & Сапаєв, І. Б. (2024). Фактори, що впливають на коефіцієнт ідеальності напівпровідникових p-n та p-i-n перехідних структур при кріогенних температурах. Східно-європейський фізичний журнал, (4), 329-333. https://doi.org/10.26565/2312-4334-2024-4-37