Вплив діелектричної екранізації на фононні частоти і акустичні властивості металічних стекол на основі Pd
Анотація
Криві дисперсії фононів для об'ємних металевих стекол (ОМС) Pd40Ni10Cu30P20 та Pd64Ni16P20 обчислюються для поздовжньої та поперечної частот фононів за допомогою простої моделі, наданої Бхатією та Сінгхом. Для поздовжнього режиму використовуються різні функції діелектричного екранування. Ми отримали значення силових констант β і δ, розрахованих з пружних констант матеріалу відповідних ОМС для обчислення кривих дисперсії. Обчислені криві дисперсії фононів демонструють належну поведінку як для поздовжньої, так і для поперечної мод. Поперечна швидкість звуку та поздовжні швидкості звуку з різним діелектричним екрануванням обчислюються в області довжини довжини хвилі з обчислених кривих дисперсії для обох ОМС. Положення першого піка коефіцієнта статичної структури передбачено з дисперсійних кривих. Значення швидкостей звуку та перший пік коефіцієнта статичної структури, розраховані на основі обчислених дисперсійних кривих, показують чудову узгодженість з експериментальними значеннями, що наявні в літературі для розглянутих ОМС, і результати можуть бути використані для кореляції інших властивостей ОМС.
Завантаження
Посилання
M. Telford, Materials Today, 7, 36-43 (2004), https://doi.org/10.1016/S1369-7021(04)00124-5.
W.H. Wang, Progress in Materials Science, 57, 487-656 (2012), https://doi.org/10.1016/j.pmatsci.2011.07.001.
M.M. Khan, A. Nemati, Z.U. Rahman, U.H. Shah, H. Asgar, and W. Haider, Critical Reviews in Solid State and Materials Science, 43, 233-268 (2018), https://doi.org/10.1080/10408436.2017.1358149.
A. Inoue, Z. M. Wang, and W. Zhang, Reviews on Advanced Materials Science, 18, 1-9 (2008), http://www.ipme.ru/e-journals/RAMS/no_11808/inoue.pdf.
L. Liu, A. Inoue, and T. Zhang, Materials, Transactions, 46, 376-378 (2005), https://doi.org/10.2320/matertrans.46.376.
Y.Q. Cheng, and E. Ma, Progress in Materials Science, 56, 379- 473 (2011), https://doi.org/10.1016/j.pmatsci.2010.12.002.
Y. Wu, H. Wang, Y. Cheng, X. Liu, X. Hui, T. Nieh, Y. Wang, and Z. Lu, Scientific Reports, 5, 12137 (2015), https://doi.org/10.1038/srep12137.
A.B. Bhatia, and R.N. Singh, Physical Review B, 31, 4751- 4758 (1985), https://doi.org/10.1103/PhysRevB.31.4751.
J. Hafner, Phyical Review B, 27, 678- 695 (1983), https://doi.org/10.1103/PhysRevB.27.678.
R. Babilas, D. Lukowiec, and L. Temleitner, Beilstein Journal of Nanotechnology, 8, 1174-1182 (2017), https://doi.org/10.3762/bjnano.8.119.
A. Gulenko, L.F. Chungong, J. Gao, I. Todd, A.C. Hannon, R.A. Martin, and J.K. Christie, Physical Chemistry Chemical Physics, 19, 8504-8515 (2017), https://doi.org/10.1039/C6CP03261C.
P.C. Agarwal, Physica B, 381, 239-245 (2006), https://doi.org/10.1016/j.physb.2006.01.522.
P.C. Agarwal, K.A. Aziz, and C.M. Kachhava, Acta Physica Hungarica, 72, 183-192 (1992), https://doi.org/10.1007/BF03054162.
A.M. Vora, and A.L. Gandhi, Armenian Journal of Physics, 12, 289-294 (2019), http://ajp.asj-oa.am/1078/1/AMV_ALG_Armenian_Journal_of_Physics_pdf.pdf
J. Hubbard, and J.L. Beeby, Journal of Physics C, 2, 556-574 (1969), https://doi.org/10.1088/0022-3719/2/3/318.
S. Takeno, and M. Goda, Progress of Theoretical Physics, 45, 331-352 (1971), https://doi.org/10.1143/PTP.45.331.
H.S. Chen, J.T. Krause, and E. Colemen, Journal of Non-Crystalline Solids, 18, 157-171 (1975), https://doi.org/10.1016/0022-3093(75)90018-6.
W.H. Wang, C. Dong, and C.H. Shek, Materials Science and Engineering: R: Reports 44, 45-89 (2004), https://doi.org/10.1016/j.mser.2004.03.001.
Авторське право (c) 2020 Р.Р. Койренг, П.Ц. Агарвал, Альпана Гохру
Цю роботу ліцензовано за Міжнародня ліцензія Creative Commons Attribution 4.0.
Автори, які публікуються у цьому журналі, погоджуються з наступними умовами:
- Автори залишають за собою право на авторство своєї роботи та передають журналу право першої публікації цієї роботи на умовах ліцензії Creative Commons Attribution License, котра дозволяє іншим особам вільно розповсюджувати опубліковану роботу з обов'язковим посиланням на авторів оригінальної роботи та першу публікацію роботи у цьому журналі.
- Автори мають право укладати самостійні додаткові угоди щодо неексклюзивного розповсюдження роботи у тому вигляді, в якому вона була опублікована цим журналом (наприклад, розміщувати роботу в електронному сховищі установи або публікувати у складі монографії), за умови збереження посилання на першу публікацію роботи у цьому журналі.
- Політика журналу дозволяє і заохочує розміщення авторами в мережі Інтернет (наприклад, у сховищах установ або на особистих веб-сайтах) рукопису роботи, як до подання цього рукопису до редакції, так і під час його редакційного опрацювання, оскільки це сприяє виникненню продуктивної наукової дискусії та позитивно позначається на оперативності та динаміці цитування опублікованої роботи (див. The Effect of Open Access).
