Деградація під впливом радіаційних дефектів детекторних властивостей Cd0.9Zn0.1Te, опроміненого нейтронами

  • Alexandr I. Kondrik Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАНУ, Харків, Україна https://orcid.org/0000-0001-9428-4830
  • Gennadij P. Kovtun Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАНУ, Харків, Україна; Харківський національний університет імені В.Н. Каразіна, Харків, Україна https://orcid.org/0000-0003-4242-7697
Ключові слова: детекторні властивості, моделювання, CdZnTe, CdTe, опромінення нейтронами, радіаційні дефекти

Анотація

Представлена робота присвячена дослідженню методом комп’ютерного моделювання механізмів впливу радіаційних дефектів, що виникають під дією нейтронного опромінення, на зміну електрофізичних властивостей - питомого опору ρ, електронної рухливості μn, часу життя нерівноважних електронів τn та дірок τp, в Cd0.9Zn0.1Te і ефективності збору зарядів неохолоджуваного детектору іонізуючих випромінювань η на основі цього матеріалу. Радіаційні дефекти, яким в забороненій зоні відповідають глибокі рівні енергії, діють як центри захоплення нерівноважних носіїв заряду, помітно впливають на ступінь компенсації, змінюючи ρ детекторного матеріалу, на процеси рекомбінації, знижуючи τn і τp, а також на розсіювання електронів провідності, зменшуючи μn, що зрештою здатне викликати деградацію ефективності збору зарядів η. Були з’ясовані конкретні причини погіршення електрофізичних та детекторних властивостей під дією нейтронного опромінення та встановлені основні фактори, які впливають на підвищення питомого опору Cd0.9Zn0.1Te при бомбардуванні тепловими та високоенергетичними нейтронами, що призводять до повної деградації реєструвальної здатності детекторів на основі цього матеріалу. Рекомбінація нерівноважних носіїв заряду помітно сильніше ніж зниження μn впливає на деградацію детекторних властивостей, тому був досліджений вплив процесів рекомбінації через глибокі рівні радіаційних дефектів на деградацію τn, τp, η детектору на основі Cd0.9Zn0.1Te. Проведено порівняльний аналіз властивостей Cd0.9Zn0.1Te і раніш дослідженого CdTe:Cl. Зроблена спроба пояснення більш високої радіаційної стійкості Cd0.9Zn0.1Te у порівнянні з CdTe:Cl при нейтронному опроміненні впливом механізму радіаційної самокомпенсації за участю більш глибоких донорних рівнів енергії: міжвузлового телуру, телуру на місці кадмію. Крім того, внаслідок меншої різниці між рівнем Фермі і рівнями радіаційних дефектів в телуриді кадмію темп рекомбінації через рівні дефектів в Cd0.9Zn0.1Te при інших рівних умовах нижчий, ніж в CdTe:Cl. Також був відзначений зв’язок між шириною забороненої зони Cd0.9Zn0.1Te і CdZn:Cl, концентрацією радіаційних дефектів, дрейфом рівня Фермі в процесі опромінення та радіаційною стійкістю детекторів. Вказано на важливу роль чистоти і концентрації легуючого мілкого донора в початковому стані детекторного матеріалу.

Завантаження

##plugins.generic.usageStats.noStats##

Посилання

Penfei Wang, Ruihua Nan, and Zengyun Jian, Journal of Semiconductors, 38, 062002 – 062002-6 (2017), https://dx.doi.org/10.1088/1674-4926/38/6/062002.

Lingyan Xu, Wanqi Jie, Gangqiang Zha, Tao Feng, Ning Wang, Shouzhi Xi, Xu Fu, Wenlong Zhang, Yadong Xu, and Tao Wang, Applied Physics Letters, 104, 232109–232109-5 (2014), https://dx.doi.org/10.1063/1.4883403.

A. Castaldini, A. Cavallini, and B. Fraboni, Journal of Applied Physics, 83, 2121–2126 (1997), https://doi.org/10.1063/1.366946.

N. Krsmanovich, K.G. Lynn, M.H. Weber, R. Tjossem, Th. Gessmann, Cs. Szeles, E.E. Eissler, J.P. Flint, and H.L. Glass, Physical Review B, 62, R16 279 – R16 282 (2000), https://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.62.R16279.

D.A. Lamb, C.I. Underwood, V. Barriozet, R. Gwilliam, J. Hall, Mark A. Baker, and Stuart J.C. Irvine, Progress in Photovoltaics, 25, 10059–1067 (2017), https://dx.doi.org/10.1002/pip.2923.

Yu.Yu. Loginov, A.V. Mozzherin, and N.N. Paklin, 21st Int. Scientific Conference Reshetnev Readings-2017. IOP Conf. Series: Materials Science and Engineering, 467, 012007–012007-5 (2019), https://dx.doi.org/10.1088/1757-899X/467/1/012007.

Ruihua Nan, Wanqi Jie, Gangqiang Zha, and Bei Wang, Journal of Electronic Materials, 41, 2044–2049 (2012), https://dx.doi.org/10.1007/s11664-012-2204-5.

S.V. Plyatsko, L.V. Rashkovetskiy, Semiconductors/Physics of the Solid State, 52(3), 322–326 (2018), https://dx.doi.org/10.21883/FTP.2018.03.45615.8373. (in Russian)

Xianf Chen, Hetong Han, Gang Li, and Yi Lu, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 394, 97-102 (2017),

https://doi.org/10.1016/j.nimb.2017.01.001.

A. Cavallini, and B. Fraboni, J. Appl. Phys. 94(5), 3135–31422003 (2003), https://dx.doi.org/10.1063/1.1600529.

A.I. Kondrik, G.P. Kovtun, Tekhnologiya i Konstruirovanie v Elektronnoi Apparature, no. 1-2, 22–29 (2020), https://dx.doi.org/10.15222/TKEA2020.1-2.22 . (in Russian)

A.I. Kondrik, G.P. Kovtun, Tekhnologiya i Konstruirovanie v Elektronnoi Apparature, no. 5-6, 43–50 (2019), https://dx.doi.org/10.15222/TKEA2019.5-6.43. (in Russian)

G.F. Knoll, Radiation detection and measurement, 4th ed. (John Wiley & Sons, Inc., 2010), p. 864.

B. Fraboni, L. Pasquini, A. Castaldini, and A. Cavallini, Journal of Applied Physics, 106, 093713 – 093713-6 (2009), https://dx.doi.org/10.1063/1.3253748 .

Ruihua Nan, Tao Wang, Gang Xu, Man Zhu, and Wanqi Jie, Journal of Crystal Growth, 451, 150–154 (2016).

https://doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2016.07.032 .

Rui-hua NAN, Wan-qi JIE, Gang-qiang ZHA, Xu-xu BAI, Bei WANG, and Hui YU, Transactions of Nonferrous Metals Society of China, 22, 148–152 (2012), https://doi.org/10.1016/S1003-6326(12)61700-2.

G.F. Novikov, and N.A. Radychev, Russian Chemical Bulletin, 56(5), 890–894 (2007), https://doi.org/10.1007/s11172-007-0134-9.

Lei Bao, Gangqiang Zha, Lingyan Xu, Binbin Zhang, Jiangpeng Dong, Yingrui Li, and Wanqi Jie, Materials Science in Semiconductor Processing, 100, 179–184 (2019), https://doi.org/10.1016/j.mssp.2019.05.002.

Опубліковано
2020-08-13
Цитовано
Як цитувати
Kondrik, A. I., & Kovtun, G. P. (2020). Деградація під впливом радіаційних дефектів детекторних властивостей Cd0.9Zn0.1Te, опроміненого нейтронами. Східно-європейський фізичний журнал, (3), 85-92. https://doi.org/10.26565/2312-4334-2020-3-11