Сублінійні зворотні ВАХ товстих плівкових структур на основі CdTe

  • Ш. А. Мирсагатов, Физико-технический институт, Научно-производственное объединение «Физика-Солнце», Ташкент
  • А. С. Ачилов, Физико-технический институт, Научно-производственное объединение «Физика-Солнце», Ташкент
  • Б. Н. Заверюхин Физико-технический институт, Научно-производственное объединение «Физика-Солнце», Ташкент
Ключові слова: напівпровідник, плівка, МОП-елемент, бар’єр Шотткі

Анотація

Створена плівкова структура з базою p-CdTe (w = 120 μm), що має з двох сторін МОП-елементи: фронтальний Al-n-Al2O3-p-CdTe і тиловий Mo-n-MoO3-p-CdTe. При включенні такої структури в зворотному напрямку струму з’являється протяжна сублінейна ділянка (СУ) на вольтамперної характеристиці (ВАХ). Механізм виникнення СУ пов’язаний з інжекцією електронів з тилової області структури і виникненням в базі (p-CdTe) зустрічних дифузійних і дрейфових струмів, компенсують один одного. Ці фізичні процеси призводять до зростання опо ру бази в широкому діапазоні напруги зсуву Vb ~ 0,3—70 V, де струм I залишається майже по стійним (~6,7·10–7 A/cm2 на початку і ~6,9 10–7 A/cm2 в кінці діапазону). Встановлено, що напочатку СУ (Vb ~ 0,3 V) релаксаційні процеси перенесення обумовлюються рекомбинацией нерівноважних носіїв, інжектованих в базу, а наприкінці СУ (Vb ~ 70 V) такі процеси цілком визначаються часом прольоту нерівноважних носіїв через базу.

 

 

Завантаження

##plugins.generic.usageStats.noStats##

Біографії авторів

Ш. А. Мирсагатов,, Физико-технический институт, Научно-производственное объединение «Физика-Солнце», Ташкент
с.н.с.
А. С. Ачилов,, Физико-технический институт, Научно-производственное объединение «Физика-Солнце», Ташкент
с.н.с.
Б. Н. Заверюхин, Физико-технический институт, Научно-производственное объединение «Физика-Солнце», Ташкент
с.н.с.

Посилання

Leiderman A. Yu., Karageorgy-Alkalaev P. M. // Phys. Status Solidi A 51, 63 (1979).

Усмонов Ш. Н., Мирсагатов Ш. А., Лейдерман А. Ю. Исследование вольт-амперной характеристики гетероструктуры n-CdS/pCdTe в зависимости от температуры // ФТП. — 2010. — Т. 44, вып. 3. — С. 330—334.

Davies L. W. Proc., IEEE, 51, 1637 (1963).

Мирсагатов Ш. А., Музафарова С. А., Ачилов А. С., Мовлонов А. А. Исследование промежуточных слоёв диода с барьером Шоттки Al-pCdTe-Мо // ФИП — 2012. — Т. 10, № 1. — С. 78—84.

Физико-химические свойства окислов. Справочник / Под. Ред. Самсонова Г. В. — М.: Металлургия, 1978. — С. 52

Миркин Л. И. Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов. — М.: Физматлит, 1961. — 863 с.

Кишенов В. Г., Вольт-фарадные измерения параметров, «ШТИИНЦА», 1987. — 65 с.

Адирович Э. И., Карагеоргий-Алкалаев П. М., Лейдерман А. Ю. Токи двойной инжекции в полупроводниках. — М.: Сов. ра дио, 1978. — 320 с.

Лейдерман А. Ю., Карагеоргий-Алкалаев П. М. «Фоточувствительность по лу провод ни ковых структур с глубокими примесями». Ташкент: Издательство «ФАН» Уз. ССР, 1981. — 199 с.

Зи. С. Физика полупроводниковых приборов. — М.: «Мир». — 1984. — Т. 1. — 455с.

Стафеев В. И., Адирович Э. И., Карагеоргий-Алкалаев П. М., Лейдерман А. Ю. // ФТТ. — 1961. — Т. 3. — С. 2513—2518.

Орешкин П. Т. Физика полупроводников и диэлектриков. — М.: «ВЫСШАЯ ШКОЛА», 1977. — 418 с. 13. Викулин И. М., Стафеев В. И. Физика полупроводниковых приборов. — М.: Сов. радио, 1980. — 296 с.
Опубліковано
2017-07-05
Як цитувати
Мирсагатов, Ш. А., Ачилов, А. С., & Заверюхин, Б. Н. (2017). Сублінійні зворотні ВАХ товстих плівкових структур на основі CdTe. Журнал фізики та інженерії поверхні, 12(2), 202-211. вилучено із https://periodicals.karazin.ua/pse/article/view/8589