Study deformation effect of nanocrystalline photosensitivity activated thin films p-CdTe

  • Н. Э. Алимов Ферганский государственный университет
  • К. Ботиров Ферганский государственный университет
  • П. Мовлонов Ферганский государственный университет
  • С. М. Отажонов Ферганский государственный университет
  • М. М. Халилов Ферганский государственный университет
  • О. Эргашев Ферганский государственный университет
  • Ш. Якубова Ферганский государственный университет
Keywords: photosensitivity, tensosensitivity, short circuit current, micro-potential barrier, deformation tension, stress, spectral sensitivity, potential barrier, deep level

Abstract

Studied photo and tensosensitivity nanocrystalline thin films of p-CdTe under various deformations. There was an increase in photographic sensitivity and tensor depending on the strain, tension. It was found that the tensile strain increases not only the height of micropotential barriers, but their asymmetry on the boundaries of the crystallites which favors the formation of a high photo and tensosensitivity in thin films. This is due to a change in the height of the potential barriers at the boundaries of the crystallites due to changes in surface states.

Downloads

Download data is not yet available.

Author Biographies

Н. Э. Алимов, Ферганский государственный университет
Проф.
К. Ботиров, Ферганский государственный университет
С. н. с.
П. Мовлонов, Ферганский государственный университет
С. н. с.
С. М. Отажонов, Ферганский государственный университет
Проф.
М. М. Халилов, Ферганский государственный университет
Проф.
О. Эргашев, Ферганский государственный университет
С. н. с.
Ш. Якубова, Ферганский государственный университет
Асп.

References

Отажонов С. М. // Физическая инженерия поверхности. - 2004. - Т. 2, № 1-2. - С. 28-31.

Отажонов С. М. Усмонов Я. Устройство для деформирования образцов при освещении монохроматическим светом // Патент IDP РУз 2000450. - 2002. - 5 с.

Каримов М., Султонов Ш. Д. // ФерПИ научно-технический журнал. - 2004. - Т. 2. - C. 20-23.

Боброва Е. А., Клевков Ю. В., Медведев С. А., Плотников А. Ф. Исследование глубоких электроных состояний в текстурированных поликристаллах p-CdTe стехиометрического состава методом DLTS // ФТП. - 2002. - Т. 36, вып. 12. - С. 1426- 1431.
Published
2017-02-16
How to Cite
Алимов, Н. Э., Ботиров, К., Мовлонов, П., Отажонов, С. М., Халилов, М. М., Эргашев, О., & Якубова, Ш. (2017). Study deformation effect of nanocrystalline photosensitivity activated thin films p-CdTe. Journal of Surface Physics and Engineering, 1(2), 140-144. Retrieved from https://periodicals.karazin.ua/pse/article/view/7906

Most read articles by the same author(s)