Вплив режиму магнетронного розпилення та складу реакційного газу на структуру і властивості плівок ITO

  • А. И. Бажин Донецкий национальный университет
  • А. Н. Троцан Донецкий национальный университет
  • С. В. Чертопалов Донецкий национальный университет
  • А. А. Стипаненко Донецкий национальный университет
  • В. А. Ступак Донецкий национальный университет
Ключові слова: плівки ITO, магнетронне розпилення, переважна орієнтація, електричний опір, прозорість, ширина забороненої зони

Анотація

Вивчено вплив температури підкладки, складу робочого газу і режимів DC і MF реактивного магнетронного розпилення сплаву 90%In + 10%Sn на структурний стан, електричний опір, прозорість і ширину забороненої зони плівок ITO, осаджених на скляні підкладки. Встановлена залежність електронно-оптичних властивостей плівок ITO від умов їх отримання пояснюється впливом ступеню релаксації внутрішніх напруг і кристалічності.

 

 

Завантаження

##plugins.generic.usageStats.noStats##

Біографії авторів

А. И. Бажин, Донецкий национальный университет
с.н.с.
А. Н. Троцан, Донецкий национальный университет
с.н.с.
С. В. Чертопалов, Донецкий национальный университет
с.н.с.
А. А. Стипаненко, Донецкий национальный университет
с.н.с.
В. А. Ступак, Донецкий национальный университет
с.н.с.

Посилання

Granqvist C.G., Hultaker A. Transparent and conducting ITO films: new developments and applications//Thin Solid Films. – 2002. – Vol. 411. – P. 1-5.

Oka N., KawaseYu., Shigesato Yu. High-rate deposition of high-quality Sn-doped In2O3 films by reactive magnetron sputtering using alloy targets//Thin Solid Films. – 2012. – Vol. 520. – P. 4101-4105.

Marcovitch O., KleinZ., LubezkyI. Transparent conductive indium oxide film deposited on low temperature substrates by activated reactive evaporation//Applied Optics. – 1989. – Vol. 28, № 14. – Р. 2792-2795.

Balasubramanian N., Subrahmanyam A. Electrical and optical properties of reactively evaporated indium tin oxide (ITO) films dependence on substrate temperature and tin concentration//J. Phys. D: Appl. Phys. – 1989. – Vol. 22. – P. 206-209.

Legeay G.A., Castel X. A gradual annealing of amorphous sputtered indium tin oxide: Crystalline structureand electrical characteristics//Thin Solid Films. – 2012. – Vol. 520. – P. 4121-4125.F

Meng L.J., dos Santos M.P. Properties of indium tin oxide (ITO) films prepared by r.f. reactive magnetron sputtering at different pressures//Thin Solid Films. – 1997. – Vol. 303. – P. 151-155

Tului M., Bellucci A., Bellini S., Albolino A., Migliozzi G. Indium tin oxide coatings properties as a function of the depositionatmosphere//Thin Solid Films. – 2012. – Vol. 520. – P. 4041-4045.F

Strumpfeli J., May C.,Low ohm large area ITO coating by reactive magnetron sputtering in DC and MF mode//Vacuum. – 2000. – Vol. 59. – Р. 500-505.

Юрченко Г.В.. Электрические и оптические свойства пленок ITO, полученных методом магнетронного распыления//ВАНТ. – 2000. – № 5. – С. 97-98.9l, M.P.

Горелик С.С., Скаков Ю.А., Расторгуев Л.Н. Рентгенографический и электроннографический анализ. – М.: МИСИС, 2002. – 360 с.
Pradhan D., Leung K.T. Vertical Growth of TwoDimensional Zinc Oxide Nanostructures on ITOCoated Glass: Effects of Deposition Temperature and Deposition Time//J. Phys. Chem. C. – 2008. – Vol. 112, № 5 – P. 1357-1364.

Мосс Г., Баррелл Т. Полупроводниковая оптоэлектроника. – М.: Мир, 1976. – 432 с.
Опубліковано
2012-10-08
Як цитувати
Бажин, А. И., Троцан, А. Н., Чертопалов, С. В., Стипаненко, А. А., & Ступак, В. А. (2012). Вплив режиму магнетронного розпилення та складу реакційного газу на структуру і властивості плівок ITO. Журнал фізики та інженерії поверхні, 10(4), 342 - 349. вилучено із https://periodicals.karazin.ua/pse/article/view/10074