Тургунов, Нозімжон А., Інститут фізики напівпровідників та мікроелектроніки Національного університету Узбекистану, Ташкент, Узбекистан, Uzbekistan
-
East European Journal of Physics No. 3 (2023): East European Journal of Physics - Original Papers
The Effect of Thermal Annealing on the Electrophysical Properties of Samples n-Si
Abstract pdf