The effect of thermal treatment on the properties of the InSe AND GaSe, doped by cobalt and vanadium selenidem

  • З. Д. Ковалюк Інститут проблем матеріалознавства, Чернівецьке відділення
  • В. В. Шевчик, Інститут проблем матеріалознавства, Чернівецьке відділення
  • В. Б. Боледзюк Інститут проблем матеріалознавства, Чернівецьке відділення
  • В. В. Нетяга Інститут проблем матеріалознавства, Чернівецьке відділення
Keywords: layered crystal, annealing, vanadium, cobalt, doping, impedance

Abstract

The spectral dependences of the impedance and dielectric susceptibility of the InSe and GaSe crystals doped by cobalt and vanadium selenide were investigated. The strong frequency dependence of the dielectric susceptibility of the doped GaSe<Co> crystals was established. We have shown the effect of annealing in vacuum on electrical properties of the InSe and GaSe crystals doped by cobalt and va nadium selenide as well as the dependence of the electrical resistance of the doped crystals vs. the an nealing temperature.

 

 

Downloads

Download data is not yet available.

Author Biographies

З. Д. Ковалюк, Інститут проблем матеріалознавства, Чернівецьке відділення
с.н.с.
В. В. Шевчик,, Інститут проблем матеріалознавства, Чернівецьке відділення
с.н.с.
В. Б. Боледзюк, Інститут проблем матеріалознавства, Чернівецьке відділення
с.н.с.
В. В. Нетяга, Інститут проблем матеріалознавства, Чернівецьке відділення
с.н.с.

References

Товстюк К. Д. Полупроводниковое материаловедение. — К.: «Наукова думка», 1984. — 264 с. 2.

Медведева З. С. Халькогениды элементов ІІІ­Б подгруппы периодической системы. — М.: «Наука», 1968 — 216 с.

Ковалюк З. Д., Политанская О. А., Литовчен ко П. Г., Ластовецкий В. Ф., Литовченко О. П., Дубовой В. К., Поливцев Л. А. Влияниеней тронного облучения на фотоэлектрические параметры структур р­n­InSe // Письма в ЖТФ. — 2007. — Т. 33, вып. 18. — С. 14—22.

Магнетизм наносистем на основе редкоземельных и 3d­переходных металлов // Хрестоматия под ред. В. О. Васьковского — Екатеринбург, 2007. — 266 с.

Kuhn A., Chevy A., Chevalier R., Crystal structure and interatomic distance in GaSe // Phys. Stat. Sol. (b). — 1975. — Vol. 31, No. 2. — Р. 469—473.
Демчина Л. А., Ковалюк З. Д., Минтянский И. В. Изготовление омических контактов к слоистым монокристаллам типа А3В6 // Приборы и техника эксперимента. — 1980. — № 2. — C. 219. 7.

Ластивка Г. И. Влияние низкотемпературного отжига на спектры ЯКР и характеристики гетерофотодиодов на основе GaSe­InSe / Г. И. Ластивка, О. Н. Сидор, З. Д. Ковалюк, А. Г. Хандожко // Восточно­европейский журнал передовых технологий. — 2010. — Т. 10, № 4/5. — С.28—34.

Бахтинов А. П., Водопьянов В. Н., Ковалюк З. Д., Нетяга В. В., Литвин О. С. Электрические свойства гибридных структур (ферромагнитный метал)­(слоистый полупроводник) Ni/p­GaSe // ФТП. — 2010. — Т. 44, № 2. — С. 180—193.

Ковалюк З. Д., Боледзюк В. Б., Шевчик В. В., Камінський В. М., Шевченко А. Д. Ви ник нення феромагнетизму в шаруватих на пів провідниках GaSe, інтеркальованих кобальтом // Восточно­европейский журнал пе редовых технологий. — 2012. — Т. 56, № 2/5. — С. 12—15.
Ковалюк З. Д., Сидор О. Н., Ластивка Г. И., Хандожко А. Г. Влияние отжига на спектры ядерного квадрупольного резонанса селенидов галлия­индия и характеристики структур на их основе // ФТП. — 2012 — Т. 46, № 9. — С. 1168—1174.

Houdy P., Maurice J. L., Besson J. M., La va J. Y. Two­dimensional defects in InSe, A. Che vy, Go rochov // J. Appl. Phys. — 1987. — Vol. 61, No. 12. — P. 5267—5271.

Kuroda N., Nishina Y. Interlationship between bond ionicity and lattice instability of IIIVI layer compounds // J. Phys. Soc. Jap. — 1981. — Vol. 50, No. 9. — P. 2969—2977.

Shigetomi S., Ikari T., and Nishmura N. Anne aling Behavior of Layered Semiconductor p­GaSе Single Crystal / Phys. Stat. Sol. A. — 2001. — Vol. 185, No. 2, — P. 341—348.
Published
2017-07-05
How to Cite
Ковалюк, З. Д., Шевчик, В. В., Боледзюк, В. Б., & Нетяга, В. В. (2017). The effect of thermal treatment on the properties of the InSe AND GaSe, doped by cobalt and vanadium selenidem. Journal of Surface Physics and Engineering, 12(2), 190-196. Retrieved from https://periodicals.karazin.ua/pse/article/view/8587

Most read articles by the same author(s)