Distribution of chemical elements in the surface layer of the films implanted ions si+ with yttrium iron garnet
Keywords:
ironyttrium garnet, Xray photoelectron spectroscopy, electron levels
Abstract
We have presented an analysis surface implanted of ions Si+ with dose of 5 · 1013 sm–2 and the energies of 100—150 keV of ironyttrium garnet films obtained using Xray photoelectron spectroscopy, established the relative content of major chemical elements in the surface layer, obtained information abo ut the features of electronic states atoms on the surface, the valence and structural changes oc curring in the surface layer under implanted silicon with different energy.
Downloads
Download data is not yet available.
References
Кендзиро Оура, Лифшиц В. Г., Саранин А. А., Зотов А. В. и др. Введение в физику поверхности: Пер. с англ. — М.: Наука, 2006. — 490 с.
De Roode W. H., Algra H. A. Annealing effects on the crystalline and magnetic properties of neon implanted garnet layers // J. Appl. Phys. — 1982. — Vol. 53(3). — P. 2507—2509.
Бриггс Д., М. Сих М. П. Анализ поверхности методами Оже-и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. — М.: Мир, 1987. — 374 с.
Нефедов В. И. Рентгеноэлектронная спектроскопия химических соединений: справочник — М.: Химия, 1984. — 256 с.
Dynamical X-ray Diffractometry of the Defect Structure of Garnet Crystals / Pylypiv V. M., Vladimirova T. P., Fodchuk I. M., Ostafiychuk B. K., Kyslovskyy Ye. M., Molodkin V. B., Olikhovskii S. I., Reshetnyk O. V., Skakunova O. S., Lizunov V. V. and Garpul O. Z. // Phys. Status Solidi A. — 2011. — Vol. 208, No. 11. Р. 2558—2562.
Watts J. F., Wolstenholme J. An introduction to surface analysis by XPS and AES. — Wiley, 2003. — 148 p.
Рентгенівська динамічна дифрактометрія структури монокристалів гранатів / Пилипів В. М., Остафійчук Б. К., Владімірова Т. П., Кисловський Є. М., Молодкін В. Б., Оліховський С. Й., Решетник О. В., Скакунова О. С., Лізунова С. В. // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. — 2011. — Т. 9, № 2. — С. 375—408.
Hesse R. Unifit for Windows, Spectrum processing, analysis and presentation software for Core Level Photoelectron Spectra. — Leipzig, 2007. — 284 p.
Вонсовский С. В. Магнетизм. — М.: Наука, 1971. — 1031 с.
De Roode W. H., Algra H. A. Annealing effects on the crystalline and magnetic properties of neon implanted garnet layers // J. Appl. Phys. — 1982. — Vol. 53(3). — P. 2507—2509.
Бриггс Д., М. Сих М. П. Анализ поверхности методами Оже-и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. — М.: Мир, 1987. — 374 с.
Нефедов В. И. Рентгеноэлектронная спектроскопия химических соединений: справочник — М.: Химия, 1984. — 256 с.
Dynamical X-ray Diffractometry of the Defect Structure of Garnet Crystals / Pylypiv V. M., Vladimirova T. P., Fodchuk I. M., Ostafiychuk B. K., Kyslovskyy Ye. M., Molodkin V. B., Olikhovskii S. I., Reshetnyk O. V., Skakunova O. S., Lizunov V. V. and Garpul O. Z. // Phys. Status Solidi A. — 2011. — Vol. 208, No. 11. Р. 2558—2562.
Watts J. F., Wolstenholme J. An introduction to surface analysis by XPS and AES. — Wiley, 2003. — 148 p.
Рентгенівська динамічна дифрактометрія структури монокристалів гранатів / Пилипів В. М., Остафійчук Б. К., Владімірова Т. П., Кисловський Є. М., Молодкін В. Б., Оліховський С. Й., Решетник О. В., Скакунова О. С., Лізунова С. В. // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. — 2011. — Т. 9, № 2. — С. 375—408.
Hesse R. Unifit for Windows, Spectrum processing, analysis and presentation software for Core Level Photoelectron Spectra. — Leipzig, 2007. — 284 p.
Вонсовский С. В. Магнетизм. — М.: Наука, 1971. — 1031 с.
Published
2017-03-24
How to Cite
Пилипів, В. М., Коцюбинський, В. О., Гарпуль, О. З., & Гасюк, І. М. (2017). Distribution of chemical elements in the surface layer of the films implanted ions si+ with yttrium iron garnet. Journal of Surface Physics and Engineering, 12(1), 39-44. Retrieved from https://periodicals.karazin.ua/pse/article/view/8228
Section
Статті
У відповідності з типовим шаблоном.
