Получение периодических слоев GaAs методом электрохимического травления

  • А. Ф. Дяденчук Бердянский государственный педагогический университет
  • В. В. Кидалов Бердянский государственный педагогический университет

Abstract

В данной работе методом анодного электрохимического травления была получена периодическая пористая структура полупроводника GaAs (001) n-типа проводимости. Поперечное сечение полученной структуры изучалось на сканирующем электронном микроскопе.

Downloads

Download data is not yet available.

Author Biographies

А. Ф. Дяденчук, Бердянский государственный педагогический университет
аспирант
В. В. Кидалов, Бердянский государственный педагогический университет
профессор

References

1. Херман М. Полупроводниковые сверхрешетки: Пер. с англ. — М.: Мир, 1989. — 240 с.

2. Силин А. П. Полупроводниковые сверхре¬шетки // Успехи физических наук. — 1985. — Т. 147, вып. 3. — С. 485—521.

3. Lehmann V., Stengl R., Luigart A. On the morphology and the electrochemical formation mechanism of mesoporous silicon // Mater. Sci. Eng. B. — 2000. — Vol. 69—70. — P. 11—22.

4. Vincent G. Optical properties of porous silicon superlattices // Appl. Phys. Lett. — 1994. — Vol. 64. — P. 2367—2369.

5. Chan S., Li Y., Rothberg L. J., Miller B. L., Fauchet P. M. Nanoscale silicon microcavities for biosensing // Mater. Sci. Eng. C. — 2001. — Vol. 15. — P. 277—282.

6. Chan S., Fauchet P. M. Silicon microcavity light emitting devices // Opt. Mater. — 2001. — Vol. 17. — P. 31—34.

7. Frohnhoff St., Berger M. G., Thonissen M., Dicker C., Vescan L., Munder H., Luth H. Formation techniques for porous silicon superlattice // Thin Solid Films. — 1995. — Vol. 285. — P. 59—62.

8. Tsuchiya H., Hueppe M., Djenizian Th., Schmuki P., Fujimoto Sh. Morphological characterization of porous InP superlattices // Science and Technology of Advanced Materials. — 2004. — Vol. 5. — P. 119—123.
Published
2015-04-27
How to Cite
Дяденчук, А. Ф., & Кидалов, В. В. (2015). Получение периодических слоев GaAs методом электрохимического травления. Journal of Surface Physics and Engineering, 12(4), 484-486. Retrieved from https://periodicals.karazin.ua/pse/article/view/1459