Дослідження розсіювання іонів Ar+ від поверхні CdTe(001) <110> при ковзаючому падінні
Анотація
У цій статті наведено результати розсіювання іонів на поверхні тонкої плівки CdTe (001) < 110>, отримані за допомогою іонної стрипп-спектроскопії. Отримано та проаналізовано траєкторії розсіяних іонів Ar+. з початковою енергією 1 кеВ і при кутах падіння y=3° і 7°. Показано, що траєкторії розсіяних іонів від поверхневого ряду атомів, від стінки півканалу і від дна півканалу відрізняються одна від одної. Отримано перші траєкторії розсіяних іонів з поверхневого півканалу, що складається з п'яти атомів Cd і Te, розташованих пошарово в два шари. Обговорюються форми цих трьох типів траєкторій і розраховуються енергії, коефіцієнти розсіювання та непружні втрати енергії розсіяних іонів. Показано, що значення енергії, коефіцієнта розсіяння та непружних втрат енергії розсіяних іонів поверхневими атомними рядами мало відрізняються один від одного. Для іонів, розсіяних від стінки напiвканалу та від дна напiвканалу, значення цих параметрів лежать в межах діапазону.
Завантаження
Посилання
H. Brongersma, M. Draxler, M. Deridder, and P. Bauer, “Surface composition analysis by low-energy ion scattering,” Surf. Sci. Rep. 62, 63–109 (2007). https://doi.org/10.1016/j.surfrep.2006.12.002
D.R. Baer, and S. Thevuthasan, “Characterization of Thin Films and Coatings, in: Handbook of Deposition Technologies for Films and Coatings,” (Third Edition), Chapter 16, edited by P.M. Martin, (William Andrew Publishing, Boston, 2010). pp. 749 864. https://doi.org/10.1016/B978-0-8155-2031-3.00016-8
T. Grehl, E. Niehuis, and H. H. Brongersma, “Surface Microanalysis by Low-Energy Ion Scattering,” Microscopy Today, 19(2), 34–38 (2011). http://dx.doi.org/10.1017/s1551929511000095.
D.N. Bernardo, W.A. Ausserer, Y.C. Ling, and G.H. Morrison, “Secondary ion scattering in dark field ion microscopy,” J. Appl. Phys, 63, 5638–5646 (1988). https://doi.org/10.1063/1.340346
F. Samavat, B.V. King, and D.J. O'Connor, “Low energy ion scattering,” Surface Review and Letters, 14, 31-41 (2007). https://doi.org/10.1142/S0218625X07009001
C.V. Cushman, P. Brüner, J. Zakel, G.H. Major, B.M. Lunt, N.J. Smith, T. Grehl, and M. R. Linford, “Low energy ion scattering (LEIS). A practical introduction to its theory, instrumentation, and applications,” Anal. Methods, 8, 3419 (2016). https://doi.org/10.1039/C6AY00765A
D. Primetzhofer, S.N. Markin, J.I. Juaristi, E. Taglauer, and P. Bauer, “Crystal effects in the neutralization of He+ ions in the low energy ion scattering regime,” Phys. Rev. Lett. 100(21), 213201 (2008). https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.100.213201
F. Savamat, B.V. King, and D.J. O'Connor, “Low energy ion scattering,” Surface Review and Letters, 14, 31–41 (2007). https://doi.org/10.1142/S0218625X07009001
D.O. Boerma, “Surface physics with low-energy ion scattering,” Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms,” 183, 73–87 (2001). http://dx.doi.org/10.1016/s0168-583x(01)00311-1
J.J.C. Geerlings, L.F.Tz. Kwakman, and J. Los, “Local work function effects in the neutralization of alkali ions scattered from cesiated surfaces,” Surface Science, 184, 305-318 (1987). https://doi.org/10.1016/S0039-6028(87)80359-X
R.H. Bergmans, W.J. Huppertz, R.G. van Welzenis, and H.H. Brongersma, “Static low-energy ion scattering,” Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 64, 584–587 (1992). http://dx.doi.org/10.1016/0168-583x(92)95538-3
Z. Fateen, and I. Azhar, “Indium phosphide nanowires and their applications in optoelectronic devices,” in: 2016 Proceedings: Mathematical, Physical and Engineering Sciences, 472, 2187 (2016). https://doi.org/10.1098/rspa.2015.0804
M.K. Karimov, U.O. Kutliev, and S.B. Bobojonova, “Investigation of angular spectrum of scattered inert gas ions from the InGaP (001) surface,” Phys. Chem. Solid State, 22, 742-745 (2021). https://doi.org/10.15330/pcss.22.4.742-745
U.O. Kutliev, M.U. Otabaev, M.K. Karimov, F.K. Masharipov, and I. Woiciechowski, “Scattering of low-energy Ne+ ions from the stepped surface of InGaP (001)< 110> at the small angles of incidence,” Physics and Chemistry of Solid State, 24, 542-548 (2023). https://doi.org/10.15330/pcss.24.3.542-548
J.F. Ziegler, J.P. Biersack, and U. Littmark, The stopping and range of ions in solids, (Pergamon Press, NY, 1985)
L.M. Kishinevsky, Izv. Acad. Nauk. Fiz. 26, 1410 (1962). (in Russian)
Авторське право (c) 2025 Ш.Р. Садуллаєв, У.О. Кутлієв, А.Ю. Саїдова, Г.О. Джуманазаров, Р.Р. Рузметов
Цю роботу ліцензовано за Міжнародня ліцензія Creative Commons Attribution 4.0.
Автори, які публікуються у цьому журналі, погоджуються з наступними умовами:
- Автори залишають за собою право на авторство своєї роботи та передають журналу право першої публікації цієї роботи на умовах ліцензії Creative Commons Attribution License, котра дозволяє іншим особам вільно розповсюджувати опубліковану роботу з обов'язковим посиланням на авторів оригінальної роботи та першу публікацію роботи у цьому журналі.
- Автори мають право укладати самостійні додаткові угоди щодо неексклюзивного розповсюдження роботи у тому вигляді, в якому вона була опублікована цим журналом (наприклад, розміщувати роботу в електронному сховищі установи або публікувати у складі монографії), за умови збереження посилання на першу публікацію роботи у цьому журналі.
- Політика журналу дозволяє і заохочує розміщення авторами в мережі Інтернет (наприклад, у сховищах установ або на особистих веб-сайтах) рукопису роботи, як до подання цього рукопису до редакції, так і під час його редакційного опрацювання, оскільки це сприяє виникненню продуктивної наукової дискусії та позитивно позначається на оперативності та динаміці цитування опублікованої роботи (див. The Effect of Open Access).
