Оптичні дослідження систем ZnS/GaAs та CuGaS2/GaP

  • Х.Н. Ахмадова Інститут фізики Міністерства науки і освіти Азербайджанської Республіки, Баку, Азербайджан; Азербайджанський державний університет нафти та промисловості, Баку, Азербайджан; Хазарський університет, Баку, Азербайджан https://orcid.org/0000-0001-5974-5400
  • М.А. Мусаєв Азербайджанський державний університет нафти та промисловості, Баку, Азербайджан
  • Н.Н. Хашімова Азербайджанський державний університет нафти та промисловості, Баку, Азербайджан
Ключові слова: неузгодженість решітки, тонка плівка, еліпсометрія

Анотація

ZnS і CuGaS2 є матеріалами з широким спектром застосування в сучасній оптоелектроніці. Ці матеріали використовуються для ІЧ-вікон, а також для лінз у тепловому діапазоні, де потрібне багатоспектральне максимальне пропускання та найменше поглинання. Саме через ці характеристики необхідні обширні та точні оптичні дослідження. У цій роботі розроблено еліпсометричний підхід для систем плівка/підкладка ZnS/GaAs і CuGaS2/GaP для вирішення завдань прямої еліпсометрії. Запропонований підхід дозволяє через еліпсометричні параметри визначити вплив неузгодженості ґрат на оптичну індикатрису напруженої плівки.

Завантаження

##plugins.generic.usageStats.noStats##

Посилання

A. Kitano, Y.G. Shim, K. Wakita, Kh. Khalilova, N. Mamedov, A. Bayramov, E. Huseynov, and I. Hasanov, “Optical characterization of non-annealed CdS:O films for window layers in solar cells,” Phys. Status Solidi C, 10, 1107-1110 (2013). https://doi.org/10.1002/pssc.201200834

Kh. Khalilova, Y.G. Shim, I. Hasanov, R. Asaba, K. Wakita, and N. Mamedov, “Spectroscopic ellipsometry studies of as-prepared and annealed CdS:O thin films,” Physica Status Solidi C, 12, 592-595 (2015). https://doi.org/10.1002/pssc.201400272

Kh.N. Ahmadova, and S.H. Jabarov, “Obtaining of Al nanosized thin layers and their structural properties,” Arabian Journal for Science and Engineering, 48, 8083-8088 (2023). https://doi.org/10.1007/s13369-022-07449-2

Kh.N. Ahmadova, S.H. Jabarov, Y.I. Aliyev, Sh.N. Aliyeva, A.V. Trukhanov, S.V. Trukhanov, and M.N. Mirzayev, “Design, production and investigation of structural singularities of layered metal-oxide nanostructures,” International Journal of Nanoscience, (2024). https://doi.org/10.1142/S0219581X24500157

Kh.N. Ahmadova, and S.H. Jabarov, “Obtaining of Al nanolayers and crystal structure,” International Journal on Technical and Physical Problems of Engineering, 52, 116-120 (2022). https://www.iotpe.com/IJTPE/IJTPE-2022/IJTPE-Issue52-Vol14-No3-Sep2022/16-IJTPE-Issue52-Vol14-No3-Sep2022-pp116-120.pdf

Kh.N. Ahmadova, “Spectroscopic ellipsometric investigation of optical parameters of oil-water thin multiple systems,” International Journal of Modern Physics B, 34, 2050058 (2020). https://doi.org/10.1142/S0217979220500587

T.K. Nurubeyli, and Kh.N. Ahmadova, “The role of the spectral matrix effect in the element analysis of biological fluids in ICP-MS,” Modern Physics Letters B, 35, 2150094 (2021). https://doi.org/10.1142/S0217984921500949

Kh.N. Ahmadova, “The new innovative optic complete method of identification of oil and its fraction,” International Journal of Modern Physics B, 35, 2150241 (2021). https://doi.org/10.1142/S0217979221502416

D. Datta, V. Tripathi, P. Gogoi, S. Banerjee, and S. Kumar, “Ellipsometric studies on thin film CuPC: C60 blends for solar cell applications,” Thin Solid Films, 516, 7237 (2008). https://doi.org/10.1016/j.tsf.2007.12.043

Y. Shim, H. Hasegawa, K. Wakita, and N. Mamedov, “CuAl1-xInxSe2 solid solutions. Dielectric function and inter-band optical transitions,” Thin Solid Films, 517, 1442 (2008). https://doi.org/10.1016/j.tsf.2008.09.013

Y. Shim, W. Okada, K. Wakita, and N. Mamedov, “Refractive indices of layered semiconductor ferroelectrics TlInS2, TlGaS2 and TlGaSe2 from ellipsometric measurements limited to only layer-plane surfaces,” J. Appl. Phys. 102, 083537 (2007). https://doi.org/10.1063/1.2800827

H. Fujiwara, Spectroscopic Ellipsometry: Principles and Applications, (John Wiley & Sons, Ltd, 2007), https://doi.org/10.1002/9780470060193

S. Iida, H. Icinokura, Y. Toyama, and A. Kato, “Photoluminescence of site-selectively Zn-doped CuGaS2/GaP epitaxial layers,” Journal of Physics and Chemistry of Solids, 64(9-10), 2017-2020 (2017). https://doi.org/10.1016/S0022-3697(03)00093-3

U. Rossow, “Spectroscopic Ellipsometry,” in: Epioptics. Esprit Basic Research Series, edited by J.F. McGlip, D. Weaire, and C.H. Patterson, (Springer, Berlin, Heidelberg, 1995). pp. 39-76. https://doi.org/10.1007/978-3-642-79820-7_3

Опубліковано
2025-03-03
Цитовано
Як цитувати
Ахмадова, Х., Мусаєв, М., & Хашімова, Н. (2025). Оптичні дослідження систем ZnS/GaAs та CuGaS2/GaP. Східно-європейський фізичний журнал, (1), 197-203. https://doi.org/10.26565/2312-4334-2025-1-20
Розділ
Статті