Використання детермінованих властивостей шорсткості поверхні у вимірі геометричної форми об’єкту

  • M. I. Dzubenko Usikov institute of radiophysics and electronics NAS of Ukraine (Kharkiv)
  • S. N. Kolpakov Usikov institute of radiophysics and electronics NAS of Ukraine (Kharkiv)
  • I. V. Popov Usikov institute of radiophysics and electronics NAS of Ukraine (Kharkiv)
  • A. A. Pryyomko Usikov institute of radiophysics and electronics NAS of Ukraine (Kharkiv)
Ключові слова: поверхня, шорсткість, дифракційні грати, когерентне випромінювання

Анотація

Проведена класифікація поверхонь за типом шорсткостей. Шорсткість залежно від методу виникнення може мати детермінований, стохастичний або хаотичний  характер. У роботі вирішено завдання знаходження вектора нормалі до поверхні і координати точки освітлення променем лазера для випадку апроксимації шорсткості плоскими відбивними дифракційними гратками.

 

 

Завантаження

##plugins.generic.usageStats.noStats##

Біографії авторів

M. I. Dzubenko, Usikov institute of radiophysics and electronics NAS of Ukraine (Kharkiv)
с.н.с.
S. N. Kolpakov, Usikov institute of radiophysics and electronics NAS of Ukraine (Kharkiv)
с.н.с.
I. V. Popov, Usikov institute of radiophysics and electronics NAS of Ukraine (Kharkiv)
с.н.с.
A. A. Pryyomko, Usikov institute of radiophysics and electronics NAS of Ukraine (Kharkiv)
с.н.с.

Посилання

Dzubenko M.I., Kolpakov S.N., Popov I.V., Pryyomko A.A. Diffraction of coherent radiation on surfaces having non Gaussian statistics of roughness//Radiophysics and electronics. − Vol.17, № 4. − P. 92-97.

Nasarov V.N., Lin‘kov A.E. Diffraction methods of control of geometric parameters and spatial positioning of objects//Optical magazine. − 2002. − Vol. 69, № 2. − P. 76-81.

Born M., Vol‘f E. Basis of optics. − M.: Science, 1970.
Borovikov V.A., Kinber B.E. Geometric theory of diffraction. − M.: Communication, 1978. − 247 p.

Vinogradova M.B., Rudenko O.V., Suhorukov A.P. Theory of waves. – M.: Science, 1979. – 384 p.

Volkov V.V. et al. Measuring of dimensions of integrated circuits taking into account real profile of etching by diffraction pattern//Microelectronics. – 1984. – Vol.13, ed.1. – P. 64-72.

Shestopalov V.P., Kirilenko A.A., Masalov S.A., Sirenko Yu.K. Resonant scattering of waves. V. 1. Diffraction gratins. − K.: Scientific mind, 1986. – 232 p.

Andrenko S.D., Evdokimov A.P., Sidorenko Yu.B., Shestopalov V.P. Features of scattering of waves from skew grating. − Kharkiv: AS USSR Preprint №244, 1984. – 40 p.

Lahno V.I., Priyomko A.A. Speckle method of measuring of configuration of industrial products //Col. Of Sci. Articles KhStTURE. – 1999. – Vol. 1. – P. 105-108.

Korn G., Korn T. Reference book on mathematics. – M.: Science, 1984. – 831 p.
Опубліковано
2017-07-21
Як цитувати
Dzubenko, M. I., Kolpakov, S. N., Popov, I. V., & Pryyomko, A. A. (2017). Використання детермінованих властивостей шорсткості поверхні у вимірі геометричної форми об’єкту. Журнал фізики та інженерії поверхні, 11(3), 254 - 259. вилучено із https://periodicals.karazin.ua/pse/article/view/8755