Том 8 № 1 (2010): Фізична інженерія поверхні

Статті

• Нанокристалічні алмазні cvd-плівки: структура, властивості і перспективи застосування

  И. И. Выровец, В. И. Грицына, С. Ф. Дудник, О. А. Опалев, Е. Н. Решетняк, В. Е. Стрельницкий

  4 - 19

  • pdf (російська)

• Триботехнические, фізико-механічні властивості і термічна стабільність нано- та мікрокомпозітних покриттів на основі Ti-Al-N

  А. Д. Погребняк, А. А. Дробышевская, М. В. Ильяшенко, Г. В. Кирик, Ф. Ф. Комаров, В. М. Береснев, Н. А. Махмудов, Ш. М. Рузимов, А. П. Шипиленко, Ю. Ж. Тулеушев

  20-27

  • pdf (російська)

• Дослідження фазового складу, структури і властивостей багатошарових вакуумно-дугових нанокристалічних покриттів Ti-Mo-N

  А. А. Андреев, О. В. Соболь, В. Ф. Горбань, В. А. Столбовой, В. В. Мамон

  28 - 35

  • pdf (російська)

• Нанодисперсні плівки, осаджені імпульсним лазерним розпиленням комбінованих мішеней Ni-Au

  А. Г. Багмут, И. А. Багмут, В. А. Жучков, Г. П. Николайчук, А. Н. Красников

  36 - 42

  • pdf (російська)

• Ієрархічна дублетно-матрична структура C для Li+ та Mg++-інтеркаляційного струмоутворення

  С. А. Войтович, І. І. Григорчак, М. В. Матвіїв

  43 - 52

  • pdf

• Температурна залежність щільності поверхневих станів, визначена за допомогою нестаціонарної ємнісний спектроскопії

  Г. Гулямов, Н. Ю. Шарибаев

  53-58

  • pdf (російська)

• Вивчення механізмів отримання наноструктур оксиду цинку з парової фази

  В. Б. Капустяник,, Б. І. Турко, Г. О. Лубочкова, Р. Я. Серкіз, Д. Л. Вознюк, Н. В. Лень, А. П. Васьків

  59 - 63

  • pdf

• Адгезійні характеристики покриттів і методи їх вимірювання

  В. М. Лунёв, О. В. Немашкало

  64 - 71

  • pdf (російська)

• Мікроструктура міжзеренних границь в полікристалічному кремнії та її вплив на перенесення носіїв заряду

  Б. М. Абдурахманов, Л. О. Олимов, Ф. Абдуразаков

  72-76

  • pdf (російська)

• Вплив процесів кластеризації в газах на швидкість звуку і його поглинання

  А. М. Павлов

  77-80

  • pdf (російська)

• Формування регулярної пористої структури р-InP

  Я. А. Сычикова, В. В. Кидалов, Г. А. Сукач

  81-87

  • pdf (російська)

• Особливості застосування рентгенівської фотоелектронної спектроскопії для визначення товщини ультратонких плівок

  А. Н. Стервоедов, В. М. Береснев, Н. В. Сергеева

  88-92

  • pdf (російська)