Wavelet analysis of composition microinhomogeneities of Cd1-xZnxTe crystals grown from melt

Автор(и)

  • O. N. Chugai N.E. Zhukovsky Kharkiv National Aerospace University, Chkalova str., 17, Kharkiv, 61070, Ukraine
  • S. L. Abashin N.E. Zhukovsky Kharkiv National Aerospace University, Chkalova str., 17, Kharkiv, 61070, Ukraine
  • A. V. Gaidachuk N.E. Zhukovsky Kharkiv National Aerospace University, Chkalova str., 17, Kharkiv, 61070, Ukraine
  • D. P. Zherebyatiev N.E. Zhukovsky Kharkiv National Aerospace University, Chkalova str., 17, Kharkiv, 61070, Ukraine
  • I. V. Lunyov N.E. Zhukovsky Kharkiv National Aerospace University, Chkalova str., 17, Kharkiv, 61070, Ukraine
  • A. A. Poluboiarov Institute for Single Crystals of NAS of Ukraine, Lenin Ave., 60, Kharkiv, 61001, Ukraine
  • S. V. Sulima Institute for Single Crystals of NAS of Ukraine, Lenin Ave., 60, Kharkiv, 61001, Ukraine

Ключові слова:

кристали AIIBVI, діелектрична проникність, тверді розчини напівпровідників, неоднорідності складу, вейвлет-аналіз

Анотація

Виміряні лінійні залежності складу вирощених з розплаву кристалів Cd1-xZnxTe (x = 0.03 - 0.15) у напрямку їхнього росту. Вейвлет-аналіз показав, що в цих залежностях для мольної частки Zn, що відповідає різним ділянкам, є кілька гармонічних складових з просторовим періодом порядку одиниць – десятків мікрометрів. Виявлена анізотропія низькочастотних діелектричних властивостей кристалів, при якій фізично виділеним є зазначений напрямок. Особливості складу і властивостей кристалів пояснені автоколивальними процесами при їх рості.

Завантаження

Опубліковано

2015-07-01

Номер

Розділ

Статті

Як цитувати