Розподіл хімічних елементів в поверхневому шарі імплантованих іонами SI+ плівок залізо-ітрієвого гранату
Ключові слова:
залізоітрієвий гранат, рентгенівська фотоелектронна спектроскопія, електронні рівніАнотація
Представлено результати аналізу поверхні імплантованої іонами Si+ з дозою 5·1013 см–2 та енергіями 100—150 кеВ плівок залізо-ітрієвого ґранату, отримані за допомогою рентґенівської фотоелектронної спектроскопії, встановлено відносний вміст основних хімічних елементів в поверхневому шарі, отримано інформацію про особливості електронних станів атомів на поверхні, валентних і структурних перетворень, що відбуваються в поверхневому шарі під дією імплантації іонами кремнію з різною енергією.
Завантаження
Опубліковано
2017-03-24
Номер
Розділ
Статті
Ліцензія
У відповідності з типовим шаблоном.Як цитувати
Розподіл хімічних елементів в поверхневому шарі імплантованих іонами SI+ плівок залізо-ітрієвого гранату. (2017). Журнал фізики та інженерії поверхні, 12(1), 39-44. https://periodicals.karazin.ua/pse/article/view/8228