Оптичні дослідження систем ZnS/GaAs та CuGaS2/GaP
DOI:
https://doi.org/10.26565/2312-4334-2025-1-20Ключові слова:
неузгодженість решітки, тонка плівка, еліпсометріяАнотація
ZnS і CuGaS2 є матеріалами з широким спектром застосування в сучасній оптоелектроніці. Ці матеріали використовуються для ІЧ-вікон, а також для лінз у тепловому діапазоні, де потрібне багатоспектральне максимальне пропускання та найменше поглинання. Саме через ці характеристики необхідні обширні та точні оптичні дослідження. У цій роботі розроблено еліпсометричний підхід для систем плівка/підкладка ZnS/GaAs і CuGaS2/GaP для вирішення завдань прямої еліпсометрії. Запропонований підхід дозволяє через еліпсометричні параметри визначити вплив неузгодженості ґрат на оптичну індикатрису напруженої плівки.
Посилання
A. Kitano, Y.G. Shim, K. Wakita, Kh. Khalilova, N. Mamedov, A. Bayramov, E. Huseynov, and I. Hasanov, “Optical characterization of non-annealed CdS:O films for window layers in solar cells,” Phys. Status Solidi C, 10, 1107-1110 (2013). https://doi.org/10.1002/pssc.201200834
Kh. Khalilova, Y.G. Shim, I. Hasanov, R. Asaba, K. Wakita, and N. Mamedov, “Spectroscopic ellipsometry studies of as-prepared and annealed CdS:O thin films,” Physica Status Solidi C, 12, 592-595 (2015). https://doi.org/10.1002/pssc.201400272
Kh.N. Ahmadova, and S.H. Jabarov, “Obtaining of Al nanosized thin layers and their structural properties,” Arabian Journal for Science and Engineering, 48, 8083-8088 (2023). https://doi.org/10.1007/s13369-022-07449-2
Kh.N. Ahmadova, S.H. Jabarov, Y.I. Aliyev, Sh.N. Aliyeva, A.V. Trukhanov, S.V. Trukhanov, and M.N. Mirzayev, “Design, production and investigation of structural singularities of layered metal-oxide nanostructures,” International Journal of Nanoscience, (2024). https://doi.org/10.1142/S0219581X24500157
Kh.N. Ahmadova, and S.H. Jabarov, “Obtaining of Al nanolayers and crystal structure,” International Journal on Technical and Physical Problems of Engineering, 52, 116-120 (2022). https://www.iotpe.com/IJTPE/IJTPE-2022/IJTPE-Issue52-Vol14-No3-Sep2022/16-IJTPE-Issue52-Vol14-No3-Sep2022-pp116-120.pdf
Kh.N. Ahmadova, “Spectroscopic ellipsometric investigation of optical parameters of oil-water thin multiple systems,” International Journal of Modern Physics B, 34, 2050058 (2020). https://doi.org/10.1142/S0217979220500587
T.K. Nurubeyli, and Kh.N. Ahmadova, “The role of the spectral matrix effect in the element analysis of biological fluids in ICP-MS,” Modern Physics Letters B, 35, 2150094 (2021). https://doi.org/10.1142/S0217984921500949
Kh.N. Ahmadova, “The new innovative optic complete method of identification of oil and its fraction,” International Journal of Modern Physics B, 35, 2150241 (2021). https://doi.org/10.1142/S0217979221502416
D. Datta, V. Tripathi, P. Gogoi, S. Banerjee, and S. Kumar, “Ellipsometric studies on thin film CuPC: C60 blends for solar cell applications,” Thin Solid Films, 516, 7237 (2008). https://doi.org/10.1016/j.tsf.2007.12.043
Y. Shim, H. Hasegawa, K. Wakita, and N. Mamedov, “CuAl1-xInxSe2 solid solutions. Dielectric function and inter-band optical transitions,” Thin Solid Films, 517, 1442 (2008). https://doi.org/10.1016/j.tsf.2008.09.013
Y. Shim, W. Okada, K. Wakita, and N. Mamedov, “Refractive indices of layered semiconductor ferroelectrics TlInS2, TlGaS2 and TlGaSe2 from ellipsometric measurements limited to only layer-plane surfaces,” J. Appl. Phys. 102, 083537 (2007). https://doi.org/10.1063/1.2800827
H. Fujiwara, Spectroscopic Ellipsometry: Principles and Applications, (John Wiley & Sons, Ltd, 2007), https://doi.org/10.1002/9780470060193
S. Iida, H. Icinokura, Y. Toyama, and A. Kato, “Photoluminescence of site-selectively Zn-doped CuGaS2/GaP epitaxial layers,” Journal of Physics and Chemistry of Solids, 64(9-10), 2017-2020 (2017). https://doi.org/10.1016/S0022-3697(03)00093-3
U. Rossow, “Spectroscopic Ellipsometry,” in: Epioptics. Esprit Basic Research Series, edited by J.F. McGlip, D. Weaire, and C.H. Patterson, (Springer, Berlin, Heidelberg, 1995). pp. 39-76. https://doi.org/10.1007/978-3-642-79820-7_3
Завантаження
Опубліковано
Номер
Розділ
Ліцензія
Автори, які публікуються у цьому журналі, погоджуються з наступними умовами:
- Автори залишають за собою право на авторство своєї роботи та передають журналу право першої публікації цієї роботи на умовах ліцензії Creative Commons Attribution License, котра дозволяє іншим особам вільно розповсюджувати опубліковану роботу з обов'язковим посиланням на авторів оригінальної роботи та першу публікацію роботи у цьому журналі.
- Автори мають право укладати самостійні додаткові угоди щодо неексклюзивного розповсюдження роботи у тому вигляді, в якому вона була опублікована цим журналом (наприклад, розміщувати роботу в електронному сховищі установи або публікувати у складі монографії), за умови збереження посилання на першу публікацію роботи у цьому журналі.
- Політика журналу дозволяє і заохочує розміщення авторами в мережі Інтернет (наприклад, у сховищах установ або на особистих веб-сайтах) рукопису роботи, як до подання цього рукопису до редакції, так і під час його редакційного опрацювання, оскільки це сприяє виникненню продуктивної наукової дискусії та позитивно позначається на оперативності та динаміці цитування опублікованої роботи (див. The Effect of Open Access).
