«Експериментально-статистичне моделювання застосування радіаційно-технологічних процесів (РТП) для уповільнення деградації UOL біполярних інтегральних мікросхем (ІМС) у полях іонізуючих випромінювань», ЖФІП, вип. 3, вип. 1, с. 26–36, Сер 2019, дата звернення: Лис 14, 2026. доступний у: https://periodicals.karazin.ua/pse/article/view/13581