«Експериментально-статистичне моделювання застосування радіаційно-технологічних процесів (РТП) для уповільнення деградації UOL біполярних інтегральних мікросхем (ІМС) у полях іонізуючих випромінювань» (2019) Журнал фізики та інженерії поверхні, 3(1), с. 26–36. доступний у: https://periodicals.karazin.ua/pse/article/view/13581 (дата звернення: 14 Листопад 2026).