«Експериментально-статистичне моделювання застосування радіаційно-технологічних процесів (РТП) для уповільнення деградації UOL біполярних інтегральних мікросхем (ІМС) у полях іонізуючих випромінювань». 2019. Журнал фізики та інженерії поверхні 3 (1): 26-36. https://periodicals.karazin.ua/pse/article/view/13581.