Експериментально-статистичне моделювання застосування радіаційно-технологічних процесів (РТП) для уповільнення деградації UOL біполярних інтегральних мікросхем (ІМС) у полях іонізуючих випромінювань. (2019). Журнал фізики та інженерії поверхні, 3(1), 26-36. https://periodicals.karazin.ua/pse/article/view/13581