Експериментально-статистичне моделювання застосування радіаційно-технологічних процесів (РТП) для уповільнення деградації UOL біполярних інтегральних мікросхем (ІМС) у полях іонізуючих випромінювань. ЖФІП. 2019;3(1):26-36. дата звернення Листопад 14, 2026. https://periodicals.karazin.ua/pse/article/view/13581