Preparing of TmS thin films and the electrophysical properties

Authors

  • М. Г. Тетелошвили Грузинский технический университет, департамент инженерной физики
  • З. У. Джабуа Грузинский технический университет, департамент инженерной физики
  • А. В. Гигинеишвили Грузинский технический университет, департамент инженерной физики

Keywords:

a film, a dusting, specific resistance, Hall’s constant, the characterizing particle

Abstract

The technology of preparation of thin crystal films of TmS by method discrete vacuum-thermal evaporation of previously synthesized material is developed. At the room temperature dependences of specific resistance and Hall’s constant on the sizes of the characterizing particles of the prepared films are measured. It is shown that electric parameters of films of TmS strongly depend on the sizes of the characterizing particles.

 

 

Author Biographies

  • М. Г. Тетелошвили, Грузинский технический университет, департамент инженерной физики
    с.н.с.
  • З. У. Джабуа, Грузинский технический университет, департамент инженерной физики
    с.н.с.
  • А. В. Гигинеишвили, Грузинский технический университет, департамент инженерной физики
    с.н.с.

Downloads

Published

2017-07-19

Issue

Vol. 2 No. 1 (2017): Журнал фізики та інженерії поверхні

Section

Статті

License

У відповідності з типовим шаблоном.

How to Cite

Preparing of TmS thin films and the electrophysical properties. (2017). Journal of Surface Physics and Engineering, 2(1), 41-43. https://periodicals.karazin.ua/pse/article/view/8741

Most read articles by the same author(s)