Визначення структури та аналіз дефектів n-Si, p-Si за допомогою раманівської спектроскопії. East Eur. J. Phys. [інтернет]. 02, Грудень 2023 [цит. за 24, Жовтень 2026];(4):193-6. доступний у: https://periodicals.karazin.ua/eejp/article/view/22143