«Дослідження електронних, пружних, термоелектричних та оптичних властивостей нових напівгейслерових напівпровідників XRhZ (X = V, Nb ТА Z = Si, Ge) методом DFT». Східно-європейський фізичний журнал, no. 1 (Березень 5, 2024): 294–307. дата звернення Жовтень 24, 2026. https://periodicals.karazin.ua/eejp/article/view/22616.