«Визначення структури та аналіз дефектів n-Si, p-Si за допомогою раманівської спектроскопії». Східно-європейський фізичний журнал, no. 4 (Грудень 2, 2023): 193–196. дата звернення Жовтень 24, 2026. https://periodicals.karazin.ua/eejp/article/view/22143.