«Аналіз рентгеновської дифракції та раманівська спектроскопія поверхні Si, збагаченої GaSb, сформованої шляхом застосування методу дифузійного легування». Східно-європейський фізичний журнал, no. 3 (Вересень 4, 2023): 363–369. дата звернення Жовтень 24, 2026. https://periodicals.karazin.ua/eejp/article/view/21928.