Експериментально-статистичне моделювання застосування радіаційно-технологічних процесів (РТП) для уповільнення деградації UOL біполярних інтегральних мікросхем (ІМС) у полях іонізуючих випромінювань. Журнал фізики та інженерії поверхні, v. 3, n. 1, p. 26–36, 1 Сер2019.