Повернутися до подробиць випуску
Експериментально-статистичне моделювання застосування радіаційно-технологічних процесів (РТП) для уповільнення деградації UOL біполярних інтегральних мікросхем (ІМС) у полях іонізуючих випромінювань
Завантажити
Завантажити PDF