Effect of mechanical activation of highly disperse SiO2/ TiO2 mixtures on distribution of valence electrons

Authors

  • Ю. В. Яворський Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут»
  • Я. В. Зауличний Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут»
  • В. Я. Ільків Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут»
  • О. І. Дудка Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут»
  • А. П. Чмерук Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут»
  • В. І. Зарко Інститут хімії поверхні ім. О. О. Чуйка
  • М. В. Карпець Інститут проблем матеріалознавства ім. Францевича

Keywords:

ultra-soft X-ray spectroscopy, the distribution of valence electrons, coherent scattering region, phase composition, scanning electron microscopy, Sisd-, Tisd-, Op-states, SiLα-, TiLα-, OKα-spectra

Abstract

By the method ultra-soft X-ray spectroscopy investigated the influence of mechanical activation method on energy redistribution of Sisd-, Tisd- and Op-valence electrons in pure SiO2, TiO2 and mixtures with a ratio of titanium oxide and silicon dioxide 90/10, 60/40, 40/60 80/20, respectively. The phase composition and characteristics of the crystal structure of samples, namely the region of coherent scattering and lattice parameters was investigated by X-ray diffraction analysis. Considered and analyzed changes in the morphology of nanocomposites with different weight ratio of incoming precursors and after mechanical activation. In analyzing the results, it was concluded that the high local pressure and temperature, which accompany the process of mechanical activation synthesis, facilitate the formation of atomic bonds between SiO2 and TiO2 nanoparticles. At the same time an increase in the population of Opπ-hybrid states.

 

Author Biographies

  • Ю. В. Яворський, Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут»
    С.н.с.
  • Я. В. Зауличний, Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут»
    С.н.с.
  • В. Я. Ільків, Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут»
    С.н.с.
  • О. І. Дудка, Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут»
    С.н.с.
  • А. П. Чмерук, Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут»
    С.н.с.
  • В. І. Зарко, Інститут хімії поверхні ім. О. О. Чуйка
    С.н.с.
  • М. В. Карпець, Інститут проблем матеріалознавства ім. Францевича
    С.н.с.

Published

2017-02-24

How to Cite

Effect of mechanical activation of highly disperse SiO2/ TiO2 mixtures on distribution of valence electrons. (2017). Journal of Surface Physics and Engineering, 13(3), 371-382. https://periodicals.karazin.ua/pse/article/view/8031

Most read articles by the same author(s)