Жураев Н, Халилов М, Отажонов С, Алимов Н. Photosensitivity and current flow mechanism in p-CdTe-SiO2-Si heterostructures with deep impurity levels. ЖФІП [Internet]. 2017Jul.19 [cited 2026Apr.7];2(1):26 -29. Available from: https://periodicals.karazin.ua/pse/article/view/8738