Шкоропатенко АВ, Кудин АМ, Андрющенко ЛА, Волошина ЛИ, Зосим ДИ, Волошин АВ. Причины нестабильности спектрометрических характеристик кристаллов Csi:Tl с матированной поверхностью. ЖФІП [Internet]. 2015Dec.4 [cited 2025Dec.14];13(2):175 -. Available from: https://periodicals.karazin.ua/pse/article/view/4556