Биткін СВ. Експериментально-статистичне моделювання застосування радіаційно-технологічних процесів (РТП) для уповільнення деградації UOL біполярних інтегральних мікросхем (ІМС) у полях іонізуючих випромінювань. ЖФІП [інтернет]. 01, Серпень 2019 [цит. за 04, Грудень 2024];3(1):26 -36. доступний у: https://periodicals.karazin.ua/pse/article/view/13581