Биткін, С. В. «Експериментально-статистичне моделювання застосування радіаційно-технологічних процесів (РТП) для уповільнення деградації UOL біполярних інтегральних мікросхем (ІМС) у полях іонізуючих випромінювань». Журнал фізики та інженерії поверхні 3, no. 1 (Серпень 1, 2019): 26 - 36. дата звернення Травень 14, 2024. https://periodicals.karazin.ua/pse/article/view/13581.