Биткін, С. В. «Експериментально-статистичне моделювання застосування радіаційно-технологічних процесів (РТП) для уповільнення деградації UOL біполярних інтегральних мікросхем (ІМС) у полях іонізуючих випромінювань». Журнал фізики та інженерії поверхні, вип. 3, вип. 1, Серпень 2019, с. 26 -36, https://periodicals.karazin.ua/pse/article/view/13581.