[1]
А. В. Шкоропатенко, А. М. Кудин, Л. А. Андрющенко, Л. И. Волошина, Д. И. Зосим, and А. В. Волошин, “Причины нестабильности спектрометрических характеристик кристаллов Csi:Tl с матированной поверхностью”, ЖФІП, vol. 13, no. 2, pp. 175 -, Dec. 2015.