[1]
А. В. Шкоропатенко, А. М. Кудин, Л. А. Андрющенко, Л. И. Волошина, Д. И. Зосим, і А. В. Волошин, «Причины нестабильности спектрометрических характеристик кристаллов Csi:Tl с матированной поверхностью», ЖФІП, вип. 13, вип. 2, с. 175 -, Груд 2015.