С. В. Биткін, «Експериментально-статистичне моделювання застосування радіаційно-технологічних процесів (РТП) для уповільнення деградації UOL біполярних інтегральних мікросхем (ІМС) у полях іонізуючих випромінювань», ЖФІП, вип. 3, вип. 1, с. 26 - 36, Сер 2019.