1. Биткін С.В. Експериментально-статистичне моделювання застосування радіаційно-технологічних процесів (РТП) для уповільнення деградації UOL біполярних інтегральних мікросхем (ІМС) у полях іонізуючих випромінювань // Журнал фізики та інженерії поверхні. 2019. № 1 (3). C. 26 - 36.