Жураев, Н., М. Халилов, С. Отажонов, and Н. Алимов. 2017. “Photosensitivity and Current Flow Mechanism in P-CdTe-SiO2-Si Heterostructures With Deep Impurity Levels”. Journal of Surface Physics and Engineering 2 (1), 26 - 29. https://periodicals.karazin.ua/pse/article/view/8738.