Биткін, С. В. 2019. «Експериментально-статистичне моделювання застосування радіаційно-технологічних процесів (РТП) для уповільнення деградації UOL біполярних інтегральних мікросхем (ІМС) у полях іонізуючих випромінювань». Журнал фізики та інженерії поверхні 3 (1), 26 - 36. https://periodicals.karazin.ua/pse/article/view/13581.